電子探針微量分析英文解釋翻譯、電子探針微量分析的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【機】 electron probe microanalysis

分詞翻譯：

電子的英語翻譯：

electron
【化】 electron
【醫】 e.; electron

探針的英語翻譯：

bougie; probe; stylet
【計】 needle
【化】 probe
【醫】 probe

微量分析的英語翻譯：

microanalysis
【化】 microanalysis
【醫】 microanalysis

專業解析

電子探針微量分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種基于電子束與物質相互作用的精密分析技術，主要用于測定固體材料中微小區域的元素組成和分布特征。其核心原理是通過聚焦的高能電子束轟擊樣品表面，激發出特征X射線，再通過波長色散譜儀（WDS）或能量色散譜儀（EDS）進行元素定性與定量分析。

該技術由法國科學家Raimond Castaing于1951年首次提出，其英文術語"Electron Probe Microanalysis"在《牛津材料科學詞典》中被定義為："A technique for determining the composition of small regions of a solid specimen using a focused electron beam."（通過聚焦電子束測定固體樣品微小區域成分的技術）。中文表述強調"微量"特性，指其分析區域可精确至1微米量級，檢測限可達百萬分之一（ppm）級别。

在應用層面，電子探針微量分析已廣泛應用于地質學（礦物成分鑒定）、材料科學（合金相分析）和半導體工業（缺陷檢測）等領域。美國國家标準與技術研究院（NIST）的研究表明，該方法對主量元素的檢測精度可達±1%相對誤差。其技術優勢在于可進行非破壞性、原位多元素同步分析，但需注意其對樣品導電性和表面平整度的特殊要求。

網絡擴展解釋

電子探針微量分析（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種結合顯微成像與化學成分分析的微區分析技術，主要用于材料科學、地質學等領域的高精度元素檢測。以下是其核心要點：

1.定義與原理

定義：通過聚焦的高能電子束（直徑約0.1–1 μm）轟擊樣品表面，激發出特征X射線，以此分析微米級區域内元素的種類和含量。
原理：電子束與樣品相互作用時，元素原子被激發産生特征X射線。通過測量X射線的波長（波譜儀）或能量（能譜儀）進行定性分析；通過強度測量實現定量分析，相對精度可達±1–5%。

2.儀器結構與功能

核心組件：
- 電子光學系統：提供高能電子束（加速電壓30–50 kV），确保束斑微小且穩定。
- 信號檢測系統：分為波譜儀（WDS）和能譜儀（EDS），前者分辨率高，後者分析速度快。
- 樣品室：支持原位分析，可直接觀察樣品形貌與成分的對應關系。

3.核心特點

微區分析：分析區域小至微米甚至納米級别，適合研究材料的局部成分差異。
非破壞性：無需破壞樣品，可重複檢測同一區域。
高精度定量：通過标準樣品校準，可實現多元素同時定量分析。

4.應用領域

材料科學：分析合金、陶瓷等材料的元素分布及相組成。
地質學：礦物成分鑒定與成因研究。
半導體工業：檢測芯片中微量雜質元素。

5.局限性

輕元素分析困難：對原子序數低于鎂（Z=12）的元素靈敏度較低。
樣品要求嚴格：需表面平整，避免粗糙度影響X射線信號強度。

如需進一步了解具體操作或案例分析，可參考科學指南針或高權威文獻。