电子探针英文解释翻译、电子探针的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 electron probe

分词翻译：

电子的英语翻译：

electron
【化】 electron
【医】 e.; electron

探针的英语翻译：

bougie; probe; stylet
【计】 needle
【化】 probe
【医】 probe

专业解析

电子探针（diàn zǐ tàn zhēn）

英文术语：Electron Probe Microanalyzer (EPMA)

词性：名词

定义：

电子探针是一种利用聚焦电子束轰击样品表面，通过检测激发出的特征X射线波长或能量，对样品微区（通常为1微米量级）进行元素成分定性、定量分析的精密仪器。其核心原理基于电子与物质相互作用产生的X射线发射现象（特征X射线谱），结合X射线光谱仪实现元素识别与浓度测定。

技术原理与核心功能

工作原理
- 电子束经电磁透镜聚焦至样品表面，激发原子内层电子跃迁，释放特征X射线。
- 通过波长色散谱仪（WDS）或能量色散谱仪（EDS）分析X射线波长/能量，匹配元素特征谱线（如Kα、Lα线），实现元素鉴定。
- 定量分析依据ZAF修正模型（原子序数Z、吸收效应A、荧光效应F）计算元素浓度。
核心功能
- 微区成分分析：空间分辨率达0.5–1微米，适用于矿物包裹体、合金相分析等。
- 元素分布成像：通过电子束扫描样品表面，生成元素面分布图（Elemental Mapping）。
- 高精度定量：对主量元素（浓度>1%）的分析误差可控制在±1–2%。

应用领域

地质学：分析矿物共生组合与成因（如锆石U-Pb定年中的微量元素分布）。
材料科学：表征金属/陶瓷中析出相成分（如高温合金中γ'相的元素偏析）。
半导体工业：检测芯片缺陷区域的杂质元素（如硅晶圆中的金属污染）。
考古学：鉴定文物材质来源（如青铜器锈蚀产物的元素组成）。

权威定义参考

国际标准化组织（ISO）：

电子探针显微分析（EPMA）是通过测量电子激发样品产生的特征X射线，实现微米尺度元素定量分析的技术（ISO 22309:2011）。
《材料表征手册》：

EPMA是唯一可同时提供高空间分辨率、高精度定量数据（检出限达0.01 wt%）的微区分析技术（Materials Characterization, ASM International）。

技术局限性

仅适用于固体样品，需表面平整（抛光至镜面）。
对轻元素（原子序数Z<11，如B/C/N/O）分析灵敏度较低，因特征X射线易被吸收。
无法直接分析有机物（电子束导致样品损伤）。

来源：

国际标准化组织（ISO）技术报告
Principles of Instrumental Analysis（分析仪器学经典教材）
ASM International《材料表征手册》

网络扩展解释

电子探针是一种具有多重应用场景的精密工具，其定义和功能因不同领域有所差异，主要分为以下两类：

一、分析仪器类电子探针（电子探针X射线显微分析仪，EPMA）

定义与原理
通过聚焦电子束轰击样品表面，激发元素的特征X射线，分析其波长和强度以实现微区化学成分检测。可检测原子序数3（锂）至92（铀）之间的元素，空间分辨率可达微米级。
核心功能
- 成分分析：支持点、线、面扫描分析，生成元素分布图像。
- 无损检测：不破坏样品，适用于地质、冶金、材料科学等领域。
- 高精度测量：采用波长色散型X射线分光器（WDS），精度优于能量色散型（EDS）。

二、电子测试探针类

定义与用途
作为电测试的接触媒介，用于导通电流或传输信号，常见于PCBA电路板、半导体芯片等电子元件的功能测试。例如：
- 大电流测试：可承载50A电流（如锂电池检测）。
- 微型连接：适用于小间距（最小0.15mm）和高频信号检测。
类型特点
- 包括悬臂探针、垂直探针、高频探针等，核心技术多由国外掌握。

三、应用领域对比

类型	主要应用场景	典型行业
分析仪器（EPMA）	材料成分分析、地质研究、光纤检测	科研、工业质检
测试探针	电子元件功能测试、信号传输	电子制造、半导体

四、补充说明

两种“电子探针”名称相似但功能迥异：分析仪器类侧重成分检测，需复杂光学系统；测试探针类侧重物理连接，强调导电性和耐用性。实际使用需根据场景区分。