電子探針英文解釋翻譯、電子探針的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron probe

分詞翻譯：

電子的英語翻譯：

electron
【化】 electron
【醫】 e.; electron

探針的英語翻譯：

bougie; probe; stylet
【計】 needle
【化】 probe
【醫】 probe

專業解析

電子探針（diàn zǐ tàn zhēn）

英文術語：Electron Probe Microanalyzer (EPMA)

詞性：名詞

定義：

電子探針是一種利用聚焦電子束轟擊樣品表面，通過檢測激發出的特征X射線波長或能量，對樣品微區（通常為1微米量級）進行元素成分定性、定量分析的精密儀器。其核心原理基于電子與物質相互作用産生的X射線發射現象（特征X射線譜），結合X射線光譜儀實現元素識别與濃度測定。

技術原理與核心功能

工作原理
- 電子束經電磁透鏡聚焦至樣品表面，激發原子内層電子躍遷，釋放特征X射線。
- 通過波長色散譜儀（WDS）或能量色散譜儀（EDS）分析X射線波長/能量，匹配元素特征譜線（如Kα、Lα線），實現元素鑒定。
- 定量分析依據ZAF修正模型（原子序數Z、吸收效應A、熒光效應F）計算元素濃度。
核心功能
- 微區成分分析：空間分辨率達0.5–1微米，適用于礦物包裹體、合金相分析等。
- 元素分布成像：通過電子束掃描樣品表面，生成元素面分布圖（Elemental Mapping）。
- 高精度定量：對主量元素（濃度>1%）的分析誤差可控制在±1–2%。

應用領域

地質學：分析礦物共生組合與成因（如锆石U-Pb定年中的微量元素分布）。
材料科學：表征金屬/陶瓷中析出相成分（如高溫合金中γ'相的元素偏析）。
半導體工業：檢測芯片缺陷區域的雜質元素（如矽晶圓中的金屬污染）。
考古學：鑒定文物材質來源（如青銅器鏽蝕産物的元素組成）。

權威定義參考

國際标準化組織（ISO）：

電子探針顯微分析（EPMA）是通過測量電子激發樣品産生的特征X射線，實現微米尺度元素定量分析的技術（ISO 22309:2011）。
《材料表征手冊》：

EPMA是唯一可同時提供高空間分辨率、高精度定量數據（檢出限達0.01 wt%）的微區分析技術（Materials Characterization, ASM International）。

技術局限性

僅適用于固體樣品，需表面平整（抛光至鏡面）。
對輕元素（原子序數Z<11，如B/C/N/O）分析靈敏度較低，因特征X射線易被吸收。
無法直接分析有機物（電子束導緻樣品損傷）。

來源：

國際标準化組織（ISO）技術報告
Principles of Instrumental Analysis（分析儀器學經典教材）
ASM International《材料表征手冊》

網絡擴展解釋

電子探針是一種具有多重應用場景的精密工具，其定義和功能因不同領域有所差異，主要分為以下兩類：

一、分析儀器類電子探針（電子探針X射線顯微分析儀，EPMA）

定義與原理
通過聚焦電子束轟擊樣品表面，激發元素的特征X射線，分析其波長和強度以實現微區化學成分檢測。可檢測原子序數3（锂）至92（鈾）之間的元素，空間分辨率可達微米級。
核心功能
- 成分分析：支持點、線、面掃描分析，生成元素分布圖像。
- 無損檢測：不破壞樣品，適用于地質、冶金、材料科學等領域。
- 高精度測量：采用波長色散型X射線分光器（WDS），精度優于能量色散型（EDS）。

二、電子測試探針類

定義與用途
作為電測試的接觸媒介，用于導通電流或傳輸信號，常見于PCBA電路闆、半導體芯片等電子元件的功能測試。例如：
- 大電流測試：可承載50A電流（如锂電池檢測）。
- 微型連接：適用于小間距（最小0.15mm）和高頻信號檢測。
類型特點
- 包括懸臂探針、垂直探針、高頻探針等，核心技術多由國外掌握。

三、應用領域對比

類型	主要應用場景	典型行業
分析儀器（EPMA）	材料成分分析、地質研究、光纖檢測	科研、工業質檢
測試探針	電子元件功能測試、信號傳輸	電子制造、半導體

四、補充說明

兩種“電子探針”名稱相似但功能迥異：分析儀器類側重成分檢測，需複雜光學系統；測試探針類側重物理連接，強調導電性和耐用性。實際使用需根據場景區分。