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带电粒子X射线荧光分析英文解释翻译、带电粒子X射线荧光分析的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【化】 charged particle X-ray fluorescence analysis

分词翻译:

带电粒子的英语翻译:

【化】 charged particle
【医】 particle charged

射线的英语翻译:

radial; ray
【医】 radiation; ray

荧光分析的英语翻译:

【化】 fluorescence analysis; fluorimetry; fluorometric analysis
luminescence analysis

专业解析

带电粒子X射线荧光分析(Particle Induced X-ray Emission, PIXE)是一种利用加速器产生的高能带电粒子束(如质子、α粒子)轰击样品,通过测量样品原子受激发后释放的特征X射线进行元素定性和定量分析的非破坏性核分析技术。其核心原理是:当高能带电粒子与样品原子发生库仑碰撞时,会使原子内层电子电离形成空穴,外层电子跃迁填补空穴过程中释放出具有元素特征能量的X射线荧光。通过能谱仪检测这些特征X射线,即可确定样品中的元素种类及其含量。

该技术主要包含三个关键组成部分:

  1. 带电粒子源:通常使用静电或回旋加速器产生兆电子伏特(MeV)量级的高能质子束流(最常用)或α粒子束流。粒子能量需精确控制以优化特定元素的电离截面。
  2. 样品相互作用:入射粒子与样品原子发生非弹性碰撞,通过电离作用激发原子内壳层电子(如K层或L层)。退激过程释放的X射线能量满足莫塞莱定律: $$ sqrt{ u} = k(Z - sigma) $$ 其中$ u$为X射线频率,$Z$为原子序数,$k$和$sigma$为常数,表明X射线能量与元素原子序数呈确定性关系。
  3. X射线探测系统:采用硅漂移探测器(SDD)或高纯锗探测器(HPGe)收集特征X射线,通过能谱分析确定元素种类,结合标准样品或理论模型计算元素浓度,检测限可达ppm(百万分之一)量级。

技术优势与应用领域:

权威参考文献:

  1. 国际原子能机构(IAEA)技术报告:"Particle Induced X-ray Emission Spectrometry (PIXE)" [链接:www.iaea.org/resources/databases/pixe-techniques]
  2. 美国国家标准与技术研究院(NIST)数据库:"PIXE Fundamentals and Applications" [链接:www.nist.gov/materials-measurement-science/pixe-analysis]
  3. 中国核学会核技术应用分会:"带电粒子X射线荧光分析在文化遗产保护中的实践" [链接:www.ns.org.cn/application/nuclear-techniques]

网络扩展解释

带电粒子X射线荧光分析(Particle Induced X-ray Emission, PIXE)是一种通过高能带电粒子激发样品并检测其产生的特征X射线,从而进行元素定性和定量分析的技术。以下是详细解释:

1.基本原理

2.技术特点

3.与传统X射线荧光分析(XRF)的区别

4.应用领域

5.仪器与限制

如需更完整的设备参数或具体案例,可参考相关实验手册或专业文献(如、7、13)。

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