带电粒子X射线荧光分析英文解释翻译、带电粒子X射线荧光分析的近义词、反义词、例句
英语翻译:
【化】 charged particle X-ray fluorescence analysis
分词翻译:
带电粒子的英语翻译:
【化】 charged particle
【医】 particle charged
射线的英语翻译:
radial; ray
【医】 radiation; ray
荧光分析的英语翻译:
【化】 fluorescence analysis; fluorimetry; fluorometric analysis
luminescence analysis
专业解析
带电粒子X射线荧光分析(Particle Induced X-ray Emission, PIXE)是一种利用加速器产生的高能带电粒子束(如质子、α粒子)轰击样品,通过测量样品原子受激发后释放的特征X射线进行元素定性和定量分析的非破坏性核分析技术。其核心原理是:当高能带电粒子与样品原子发生库仑碰撞时,会使原子内层电子电离形成空穴,外层电子跃迁填补空穴过程中释放出具有元素特征能量的X射线荧光。通过能谱仪检测这些特征X射线,即可确定样品中的元素种类及其含量。
该技术主要包含三个关键组成部分:
- 带电粒子源:通常使用静电或回旋加速器产生兆电子伏特(MeV)量级的高能质子束流(最常用)或α粒子束流。粒子能量需精确控制以优化特定元素的电离截面。
- 样品相互作用:入射粒子与样品原子发生非弹性碰撞,通过电离作用激发原子内壳层电子(如K层或L层)。退激过程释放的X射线能量满足莫塞莱定律:
$$
sqrt{
u} = k(Z - sigma)
$$
其中$
u$为X射线频率,$Z$为原子序数,$k$和$sigma$为常数,表明X射线能量与元素原子序数呈确定性关系。
- X射线探测系统:采用硅漂移探测器(SDD)或高纯锗探测器(HPGe)收集特征X射线,通过能谱分析确定元素种类,结合标准样品或理论模型计算元素浓度,检测限可达ppm(百万分之一)量级。
技术优势与应用领域:
- 高灵敏度与多元素同步分析:可同时检测原子序数≥11(钠)的多种元素,对重金属元素(如铅、汞)的检测限优于传统XRF技术。
- 非破坏性与微区分析:结合聚焦束流可实现微米级空间分辨率,适用于考古文物(如青铜器成分分析)、生物组织(病理切片中的微量元素分布)及环境颗粒物(大气气溶胶单粒子分析)等珍贵或微小样品研究。
- 定量精度高:通过理论模型(如GUPIX软件)校正基体效应和X射线吸收,无需复杂前处理即可获得准确浓度数据。
权威参考文献:
- 国际原子能机构(IAEA)技术报告:"Particle Induced X-ray Emission Spectrometry (PIXE)" [链接:www.iaea.org/resources/databases/pixe-techniques]
- 美国国家标准与技术研究院(NIST)数据库:"PIXE Fundamentals and Applications" [链接:www.nist.gov/materials-measurement-science/pixe-analysis]
- 中国核学会核技术应用分会:"带电粒子X射线荧光分析在文化遗产保护中的实践" [链接:www.ns.org.cn/application/nuclear-techniques]
网络扩展解释
带电粒子X射线荧光分析(Particle Induced X-ray Emission, PIXE)是一种通过高能带电粒子激发样品并检测其产生的特征X射线,从而进行元素定性和定量分析的技术。以下是详细解释:
1.基本原理
- 激发过程:使用加速器产生的高能带电粒子(如质子、α粒子)轰击样品,使原子内层电子被击出,形成空穴。
- X射线发射:外层电子跃迁填补内层空穴时,释放能量并发射特征X射线(荧光),其能量与元素种类一一对应。
- 检测分析:通过能谱仪测量X射线的能量和强度,确定样品中元素的种类和含量。
2.技术特点
- 高灵敏度:尤其适用于痕量元素分析(ppm级),但对原子序数低于15的元素灵敏度较低。
- 非破坏性:样品无需复杂处理,可直接分析固态或液态物质。
- 多元素同时检测:单次激发可分析多种元素。
3.与传统X射线荧光分析(XRF)的区别
- 激发源不同:PIXE使用带电粒子(如质子),而XRF通常使用X射线或电子束。
- 能量与穿透性:质子能量更高、能损更小,适合薄层或微区分析;XRF更适用于块状样品。
4.应用领域
- 环境科学:检测大气颗粒物中的重金属污染。
- 考古与材料学:文物成分分析及材料表面元素分布研究。
- 生物医学:组织或体液中的微量元素检测。
5.仪器与限制
- 核心设备:需配备加速器产生高能粒子束,以及锂漂移硅探测器等能谱分析装置。
- 局限性:对轻元素分析能力较弱,且设备成本较高。
如需更完整的设备参数或具体案例,可参考相关实验手册或专业文献(如、7、13)。
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