大规模集成电路测试系统英文解释翻译、大规模集成电路测试系统的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 LSI testing system

分词翻译：

大规模集成电路的英语翻译：

【计】 large scale integrated circuit; large-scale integrated circuit
ultra LSI

测试的英语翻译：

test; testing
【计】 T
【化】 measurement and test
【经】 test

系统的英语翻译：

system; scheme
【计】 system
【化】 system
【医】 system; systema
【经】 channel; system

网络扩展解释

大规模集成电路测试系统是用于验证大规模集成电路（LSI）功能和性能的专用设备，其核心目标是通过输入测试信号并分析输出响应，确保芯片符合设计规范。以下是综合多个来源的详细解释：

一、定义与功能

大规模集成电路（LSI）通常指集成1000个以上电子元件的芯片。测试系统通过以下流程验证其可靠性：

测试码输入：向芯片输入由“1”“0”组合的逻辑信号（测试码）；
响应分析：将输出信号与预期标准信号对比，判断是否存在缺陷；
参数测量：包括电压、电流、时序等关键指标的精确检测。

二、核心组成部分

测试生成技术
- 规则生成：适用于存储器等规则结构芯片，无需存储测试图案；
- 程序生成：通过算法自动生成测试序列，需依赖图案存储器；
响应鉴别技术
- 自检法：在实用系统中运行诊断程序，成本低但灵活性差；
- 实时比较：利用标准品或仿真器动态生成预期响应，无需大容量存储；
硬件模块
- 高精度驱动/比较器（支持-24V至+50V电压范围）；
- 多通道配置（如BC3192EX系统支持768通道同步测试）。

三、技术特点

高精度
- 时间精度达±150ps，电流测量至纳安级；
高效并行
- 支持192芯片同步测试，分布式架构提升灵活性；
广泛兼容性
- 覆盖TTL、CMOS、存储器、微处理器等多种器件；
- 可适配J750等主流测试程序。

四、典型应用场景

测试系统类型	适用领域	示例芯片
数字基本型	消费电子	MCU、逻辑器件
数模混合型	传感器、音视频IC	ADC/DAC
存储器专用型	存储芯片	NAND Flash、SRAM
高并测型	晶圆量产测试	多通道通信芯片

五、技术发展现状

目前国内相关系统（如BJ3140型）已覆盖3-5微米工艺芯片测试，但高端系统研发仍处于验证阶段。国际领先系统（如BC3192EX系列）已实现1536通道扩展能力。

如需查看完整测试系统参数或型号对比，可参考详细技术说明。

网络扩展解释二

大规模集成电路测试系统

da4 gui1 mo2 ji2 cheng2 dian4 lu4 ce4 shi4 xi4 tong3

English: Large-Scale Integrated Circuit Testing System

Pronunciation: lahj-skeyl in-tuh-grey-tid sir-kut tes-ting sis-tuhm

Usage: This term refers to a system used for testing large-scale integrated circuits, ensuring that they function properly before they are used in electronic devices.

Example sentence: The large-scale integrated circuit testing system helped identify an error in the circuit design before it was released for mass production. (大规模集成电路测试系统帮助在电路投入大量生产之前发现设计上的错误。)

Synonyms: Integrated Circuit Tester (集成电路测试器)

Antonyms: N/A

Common usage: This term is commonly used in the field of electrical engineering and technology.