低阻抗测量英文解释翻译、低阻抗测量的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 low-impedance measurement

分词翻译：

低的英语翻译：

hang down; low; lowness
【医】 hyp-; hypo-

阻抗的英语翻译：

impedance
【计】 Z
【化】 electrical impedance; impedance
【医】 impedance

测量的英语翻译：

guage; measure; meterage; scale; survey
【化】 measurement
【医】 measurement; mensuration; survey
【经】 calibration; take the gauge of

专业解析

在电子工程领域，低阻抗测量（Low Impedance Measurement）指对电阻值较小的电路或元件进行的精确电学特性测试。阻抗（Z）包含电阻（R）和电抗（X）分量，其数学定义为： $$ Z = R + jX $$ 其中低频下电抗可忽略，近似为纯电阻测量。低阻抗通常指1Ω 以下至毫欧级（mΩ）的阻值范围。

核心测量难点与技术方案

接触电阻干扰
传统两线测量法受测试线缆和探针接触电阻影响（常达数毫欧），导致显著误差。四线开尔文（Kelvin）测量法通过分离电流施加与电压检测路径，消除接触阻抗干扰，精度可达 0.1% 。
热电势效应
不同金属接触点产生的热电压（µV级）会叠加在测量信号上。采用电流反向技术（Current Reversal）或交流激励抵消热电势漂移，例如使用 1kHz 交流信号结合锁相放大器提取有效数据。
信噪比优化
低阻抗场景下被测电压信号微弱（如 1A 电流通过 1mΩ 仅产生 1mV）。需采用高精度电流源（稳定性 ±0.02%）与低噪声差分放大器（输入噪声 <1µV）提升信噪比。

典型应用场景

电源完整性验证：PCB 电源平面阻抗（目标 <2mΩ）影响芯片供电稳定性
电池内阻检测：锂离子电池毫欧级内阻变化反映老化状态（参考 IEEE 标准 1180-2018）
导体可靠性评估：连接器/继电器接触阻抗增大预示潜在失效

权威参考文献

Keysight《低电阻测量技术》应用指南（AN-154）
https://www.keysight.com/us/en/assets/7018-06841/application-notes/5992-1780.pdf

IEEE 标准 1180-2018《蓄电池阻抗测试导则》
https://standards.ieee.org/standard/1180-2018.html

Wikipedia "Four-terminal sensing" 词条（四线检测原理）
https://en.wikipedia.org/wiki/Four-terminal_sensing

网络扩展解释

低阻抗测量是指在电路测试中，仪器或测量链以低阻抗状态接入被测对象的一种方法。以下是具体解析：

1.基本定义

低阻抗指阻抗值较小的电路特性（通常包括电阻、电容、电感的综合作用）。在测量中，若仪器呈现低阻抗输入（如万用表的低阻抗模式），意味着它会从被测电路中索取较大电流，从而减少外界干扰对测量的影响。

2.主要应用场景

电压测量：低阻抗模式可抑制杂散电压（如感应电、虚电压），提高判断电压存在性的准确性。例如，万用表的“Auto-V/LoZ”档位专门用于此类场景。
电流测量：低阻抗状态下，万用表串联在电路中，因自身阻抗低，对原电路影响较小。
精密测试：通过交流法和锁相技术（如电流源模块+电压测试模块）实现低阻抗电压测量，减少直流漂移误差。

3.技术实现与注意事项

仪器配置：需明确测量模式（如万用表的档位选择），错误使用（如低阻抗档测高压）可能损坏设备。
干扰抑制：低阻抗输入可降低由长导线、电磁场等引起的虚假电压干扰。

4.典型误区

低阻抗测量并非适用于所有场景。例如，测量高内阻电源电压时，低阻抗可能导致负载效应，需根据被测对象特性选择高/低阻抗模式。

如需更完整的电路测试原理，可参考专业电子测量手册或仪器说明书。