低阻抗測量英文解釋翻譯、低阻抗測量的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 low-impedance measurement

分詞翻譯：

低的英語翻譯：

hang down; low; lowness
【醫】 hyp-; hypo-

阻抗的英語翻譯：

impedance
【計】 Z
【化】 electrical impedance; impedance
【醫】 impedance

測量的英語翻譯：

guage; measure; meterage; scale; survey
【化】 measurement
【醫】 measurement; mensuration; survey
【經】 calibration; take the gauge of

專業解析

在電子工程領域，低阻抗測量（Low Impedance Measurement）指對電阻值較小的電路或元件進行的精确電學特性測試。阻抗（Z）包含電阻（R）和電抗（X）分量，其數學定義為： $$ Z = R + jX $$ 其中低頻下電抗可忽略，近似為純電阻測量。低阻抗通常指1Ω 以下至毫歐級（mΩ）的阻值範圍。

核心測量難點與技術方案

接觸電阻幹擾
傳統兩線測量法受測試線纜和探針接觸電阻影響（常達數毫歐），導緻顯著誤差。四線開爾文（Kelvin）測量法通過分離電流施加與電壓檢測路徑，消除接觸阻抗幹擾，精度可達 0.1% 。
熱電勢效應
不同金屬接觸點産生的熱電壓（µV級）會疊加在測量信號上。采用電流反向技術（Current Reversal）或交流激勵抵消熱電勢漂移，例如使用 1kHz 交流信號結合鎖相放大器提取有效數據。
信噪比優化
低阻抗場景下被測電壓信號微弱（如 1A 電流通過 1mΩ 僅産生 1mV）。需采用高精度電流源（穩定性 ±0.02%）與低噪聲差分放大器（輸入噪聲 <1µV）提升信噪比。

典型應用場景

電源完整性驗證：PCB 電源平面阻抗（目标 <2mΩ）影響芯片供電穩定性
電池内阻檢測：锂離子電池毫歐級内阻變化反映老化狀态（參考 IEEE 标準 1180-2018）
導體可靠性評估：連接器/繼電器接觸阻抗增大預示潛在失效

權威參考文獻

Keysight《低電阻測量技術》應用指南（AN-154）
https://www.keysight.com/us/en/assets/7018-06841/application-notes/5992-1780.pdf

IEEE 标準 1180-2018《蓄電池阻抗測試導則》
https://standards.ieee.org/standard/1180-2018.html

Wikipedia "Four-terminal sensing" 詞條（四線檢測原理）
https://en.wikipedia.org/wiki/Four-terminal_sensing

網絡擴展解釋

低阻抗測量是指在電路測試中，儀器或測量鍊以低阻抗狀态接入被測對象的一種方法。以下是具體解析：

1.基本定義

低阻抗指阻抗值較小的電路特性（通常包括電阻、電容、電感的綜合作用）。在測量中，若儀器呈現低阻抗輸入（如萬用表的低阻抗模式），意味着它會從被測電路中索取較大電流，從而減少外界幹擾對測量的影響。

2.主要應用場景

電壓測量：低阻抗模式可抑制雜散電壓（如感應電、虛電壓），提高判斷電壓存在性的準确性。例如，萬用表的“Auto-V/LoZ”檔位專門用于此類場景。
電流測量：低阻抗狀态下，萬用表串聯在電路中，因自身阻抗低，對原電路影響較小。
精密測試：通過交流法和鎖相技術（如電流源模塊+電壓測試模塊）實現低阻抗電壓測量，減少直流漂移誤差。

3.技術實現與注意事項

儀器配置：需明确測量模式（如萬用表的檔位選擇），錯誤使用（如低阻抗檔測高壓）可能損壞設備。
幹擾抑制：低阻抗輸入可降低由長導線、電磁場等引起的虛假電壓幹擾。

4.典型誤區

低阻抗測量并非適用于所有場景。例如，測量高内阻電源電壓時，低阻抗可能導緻負載效應，需根據被測對象特性選擇高/低阻抗模式。

如需更完整的電路測試原理，可參考專業電子測量手冊或儀器說明書。