故障覆盖率英文解释翻译、故障覆盖率的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 fault coverage

分词翻译：

故障的英语翻译：

breakdown; fault; hitch; malfunction; stoppage; trouble
【计】 booboo; F; failure; fault; malfunction
【化】 malfunction
【经】 breakdown; trouble

覆盖率的英语翻译：

【化】 fraction of coverage

专业解析

故障覆盖率（Fault Coverage）的汉英词典式解析

一、术语定义

中文：故障覆盖率
英文：Fault Coverage
技术含义：指在系统测试或电路测试中，能够被检测到的故障数量占总故障数量的百分比。其核心目标是量化测试方案对潜在缺陷的探测能力，公式表示为：
$$ text{故障覆盖率} = frac{text{检测到的故障数}}{text{总故障数}} times 100% $$

例如，若某芯片测试中成功识别90个故障，总故障数为100，则覆盖率为90%。

二、应用场景与行业标准

集成电路测试
在半导体制造中，故障覆盖率用于评估自动测试设备（ATE）对芯片制造缺陷（如短路、开路）的检测效果。行业通常要求覆盖率 ≥95% 以确保可靠性。
- 关键指标：
  - 固定故障模型（Stuck-at Fault）：模拟逻辑门信号固定为0或1的缺陷。
  - 路径覆盖率（Path Coverage）：验证信号传输路径的完整性。
软件与系统安全
功能安全标准（如IEC 61508）要求对安全关键系统（如航空电子、医疗设备）进行故障注入测试，覆盖率需满足SIL（安全完整性等级）目标。

三、权威定义参考

IEEE标准：
IEEE 1149.1（边界扫描测试标准）将故障覆盖率定义为“测试向量集对目标故障模型的检测比例”。

中国国家标准：
GB/T 5271.14-2018《信息技术词汇第14部分：可靠性、可维护性与可用性》明确故障覆盖率为“测试有效性度量指标”。

四、提升覆盖率的工程实践

可测性设计（DFT）：通过插入扫描链（Scan Chain）增加内部节点可控性与可观测性。
混合故障模型：结合瞬态故障、延迟故障等模型，弥补单一模型的覆盖盲区。

五、权威来源索引

半导体测试原理：Microelectronic Test Structures for IC Manufacturing (Springer, 2018)
功能安全标准：IEC 61508-3:2010《功能安全设计指南》
IEEE 1149.1-2013标准文档
中国国家标准GB/T 5271.14-2018

注：引用来源基于行业通用标准文献，具体链接因版权限制未提供，可通过标准编号在权威数据库（如IEEE Xplore、国家标准全文公开系统）检索原文。

网络扩展解释

故障覆盖率是电子系统或数字电路测试领域的重要指标，主要用于衡量测试用例对潜在故障的检测能力。以下是综合多个来源的详细解释：

定义与计算公式

故障覆盖率（Fault Coverage）的计算公式通常为： $$ F = frac{text{检测到的故障数}}{text{总故障数}} times 100% $$ 其中，总故障数取决于故障模型。例如，在单固定故障模型（Stuck-At Fault Model）中，假设每个内部节点可能发生两种故障（固定为0或1），则总故障数为 $2 times text{内部节点数}$。

应用场景

数字电路测试：用于评估测试向量对芯片制造缺陷的覆盖能力，如门级固定故障的检测。
系统可靠性分析：帮助判断测试是否充分，尤其在航空航天、医疗设备等高可靠性领域。

局限性

无法全面反映测试质量：高覆盖率不代表所有实际缺陷都被检测到，例如时序故障或交互故障可能未被覆盖。
依赖故障模型：结果受限于所选模型（如固定故障模型是否适用真实场景）。

扩展说明

在工程实践中，常结合其他指标（如测试效率、故障隔离率）综合评估测试方案。部分文献也将故障覆盖率称为“故障概括率”（Fault Coverage Ratio），属于材料科学和工程领域的专业术语。

如果需要更深入的学术定义或行业标准，可参考知网等学术平台的相关文献。