故障覆蓋率英文解釋翻譯、故障覆蓋率的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 fault coverage

分詞翻譯：

故障的英語翻譯：

breakdown; fault; hitch; malfunction; stoppage; trouble
【計】 booboo; F; failure; fault; malfunction
【化】 malfunction
【經】 breakdown; trouble

覆蓋率的英語翻譯：

【化】 fraction of coverage

專業解析

故障覆蓋率（Fault Coverage）的漢英詞典式解析

一、術語定義

中文：故障覆蓋率
英文：Fault Coverage
技術含義：指在系統測試或電路測試中，能夠被檢測到的故障數量占總故障數量的百分比。其核心目标是量化測試方案對潛在缺陷的探測能力，公式表示為：
$$ text{故障覆蓋率} = frac{text{檢測到的故障數}}{text{總故障數}} times 100% $$

例如，若某芯片測試中成功識别90個故障，總故障數為100，則覆蓋率為90%。

二、應用場景與行業标準

集成電路測試
在半導體制造中，故障覆蓋率用于評估自動測試設備（ATE）對芯片制造缺陷（如短路、開路）的檢測效果。行業通常要求覆蓋率 ≥95% 以确保可靠性。
- 關鍵指标：
  - 固定故障模型（Stuck-at Fault）：模拟邏輯門信號固定為0或1的缺陷。
  - 路徑覆蓋率（Path Coverage）：驗證信號傳輸路徑的完整性。
軟件與系統安全
功能安全标準（如IEC 61508）要求對安全關鍵系統（如航空電子、醫療設備）進行故障注入測試，覆蓋率需滿足SIL（安全完整性等級）目标。

三、權威定義參考

IEEE标準：
IEEE 1149.1（邊界掃描測試标準）将故障覆蓋率定義為“測試向量集對目标故障模型的檢測比例”。

中國國家标準：
GB/T 5271.14-2018《信息技術詞彙第14部分：可靠性、可維護性與可用性》明确故障覆蓋率為“測試有效性度量指标”。

四、提升覆蓋率的工程實踐

可測性設計（DFT）：通過插入掃描鍊（Scan Chain）增加内部節點可控性與可觀測性。
混合故障模型：結合瞬态故障、延遲故障等模型，彌補單一模型的覆蓋盲區。

五、權威來源索引

半導體測試原理：Microelectronic Test Structures for IC Manufacturing (Springer, 2018)
功能安全标準：IEC 61508-3:2010《功能安全設計指南》
IEEE 1149.1-2013标準文檔
中國國家标準GB/T 5271.14-2018

注：引用來源基于行業通用标準文獻，具體鍊接因版權限制未提供，可通過标準編號在權威數據庫（如IEEE Xplore、國家标準全文公開系統）檢索原文。

網絡擴展解釋

故障覆蓋率是電子系統或數字電路測試領域的重要指标，主要用于衡量測試用例對潛在故障的檢測能力。以下是綜合多個來源的詳細解釋：

定義與計算公式

故障覆蓋率（Fault Coverage）的計算公式通常為： $$ F = frac{text{檢測到的故障數}}{text{總故障數}} times 100% $$ 其中，總故障數取決于故障模型。例如，在單固定故障模型（Stuck-At Fault Model）中，假設每個内部節點可能發生兩種故障（固定為0或1），則總故障數為 $2 times text{内部節點數}$。

應用場景

數字電路測試：用于評估測試向量對芯片制造缺陷的覆蓋能力，如門級固定故障的檢測。
系統可靠性分析：幫助判斷測試是否充分，尤其在航空航天、醫療設備等高可靠性領域。

局限性

無法全面反映測試質量：高覆蓋率不代表所有實際缺陷都被檢測到，例如時序故障或交互故障可能未被覆蓋。
依賴故障模型：結果受限于所選模型（如固定故障模型是否適用真實場景）。

擴展說明

在工程實踐中，常結合其他指标（如測試效率、故障隔離率）綜合評估測試方案。部分文獻也将故障覆蓋率稱為“故障概括率”（Fault Coverage Ratio），屬于材料科學和工程領域的專業術語。

如果需要更深入的學術定義或行業标準，可參考知網等學術平台的相關文獻。