晶轴的测定英文解释翻译、晶轴的测定的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【电】 axonompetry

分词翻译：

晶轴的英语翻译：

【化】 crystal axis; crystallographic axis
【医】 crystal axis

测定的英语翻译：

determine; mensuration; set out
【化】 assaying; determination; estimation
【医】 assay; determination
【经】 gauge

专业解析

晶轴的测定（crystallographic axes measurement）是指通过实验方法确定晶体中三个结晶轴（a轴、b轴、c轴）的方向、长度及夹角的过程，是晶体学研究和材料表征的基础步骤。其核心目标是为晶体建立空间坐标系，进而分析晶格参数、对称性和取向。

一、测量原理与方法

X射线衍射法（XRD）
利用X射线在晶体晶面上的衍射现象，通过布拉格定律（$$ nlambda = 2dsintheta $$）计算晶面间距（d），结合衍射角（θ）推导晶轴长度和夹角。该方法需通过衍射图谱的指标化（indexing）确定各晶面对应的晶轴方向。
电子背散射衍射（EBSD）
在扫描电镜（SEM）中，通过电子束与晶体作用产生的菊池带（Kikuchi patterns），解析晶体的绝对取向和晶轴关系，适用于微区晶体取向分析。
旋进电子衍射（PED）
结合透射电镜（TEM）与电子衍射技术，通过旋转电子束消除动力学衍射效应，直接获取晶轴的三维信息，适用于纳米晶体测量。

二、核心参数与意义

晶轴长度（a, b, c）：反映晶胞尺寸，单位通常为Å（埃）。
轴间夹角（α, β, γ）：定义晶胞几何形状，如立方晶系α=β=γ=90°。
取向矩阵：描述晶轴相对于样品坐标系的旋转关系，用于织构分析。

三、应用领域

材料科学：确定合金、陶瓷的相结构，分析晶格畸变。
地质矿物学：鉴定矿物种类及成因，如石英晶轴定向反映地质应力历史。
半导体工业：优化单晶硅切割方向以提升器件性能。

权威参考文献：

Cullity, B. D. & Stock, S. R. Elements of X-ray Diffraction. Pearson, 2014. （晶轴测量理论基础）

Schwartz, A. J. et al. Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. Springer, 2009. （EBSD技术指南）

International Tables for Crystallography. Space-Group Symmetry. Wiley, 2016. （标准晶体学数据库）

（注：因搜索结果未提供可直接引用的网页链接，本文参考文献以经典学术著作替代以确保权威性。）

网络扩展解释

晶轴的测定是晶体学中的重要概念，主要用于确定晶体坐标系中的参考轴（晶轴），以描述晶体的几何结构和对称性。以下是综合搜索结果和相关知识的解释：

1.晶轴的定义

晶轴（Crystal Axis）指晶体坐标系中用于描述晶体结构方向的参考轴。通常包括三个主轴（a轴、b轴、c轴），它们相互垂直或按特定角度相交，用于定义晶体的晶胞参数（如长度和夹角）。

2.测定的目的

通过测定晶轴，可确定晶体的对称性、晶面指数（如密勒指数）以及晶体的物理性质（如光学、电学特性）。

3.测定方法

X射线衍射法：最常用的技术，通过分析晶体对X射线的衍射图谱，计算晶轴方向和晶胞参数。
光学测角法：测量晶体各晶面之间的角度，结合对称性推导晶轴方向。
电子显微镜分析：结合电子衍射技术，观察微观晶体结构并确定晶轴。

4.英语翻译与术语

晶轴的测定：Axonometry
相关术语：
- 晶轴：Crystal axis / Crystallographic axis。
- 测定：Determination（如“determination of crystal axes”）。

5.应用领域

材料科学（如金属、半导体分析）、矿物学（矿物鉴定）、化学（分子结构解析）等。

如需更完整的测定流程或具体技术细节，可参考晶体学教材或专业仪器手册。