晶軸的測定英文解釋翻譯、晶軸的測定的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【電】 axonompetry

分詞翻譯：

晶軸的英語翻譯：

【化】 crystal axis; crystallographic axis
【醫】 crystal axis

測定的英語翻譯：

determine; mensuration; set out
【化】 assaying; determination; estimation
【醫】 assay; determination
【經】 gauge

專業解析

晶軸的測定（crystallographic axes measurement）是指通過實驗方法确定晶體中三個結晶軸（a軸、b軸、c軸）的方向、長度及夾角的過程，是晶體學研究和材料表征的基礎步驟。其核心目标是為晶體建立空間坐标系，進而分析晶格參數、對稱性和取向。

一、測量原理與方法

X射線衍射法（XRD）
利用X射線在晶體晶面上的衍射現象，通過布拉格定律（$$ nlambda = 2dsintheta $$）計算晶面間距（d），結合衍射角（θ）推導晶軸長度和夾角。該方法需通過衍射圖譜的指标化（indexing）确定各晶面對應的晶軸方向。
電子背散射衍射（EBSD）
在掃描電鏡（SEM）中，通過電子束與晶體作用産生的菊池帶（Kikuchi patterns），解析晶體的絕對取向和晶軸關系，適用于微區晶體取向分析。
旋進電子衍射（PED）
結合透射電鏡（TEM）與電子衍射技術，通過旋轉電子束消除動力學衍射效應，直接獲取晶軸的三維信息，適用于納米晶體測量。

二、核心參數與意義

晶軸長度（a, b, c）：反映晶胞尺寸，單位通常為Å（埃）。
軸間夾角（α, β, γ）：定義晶胞幾何形狀，如立方晶系α=β=γ=90°。
取向矩陣：描述晶軸相對于樣品坐标系的旋轉關系，用于織構分析。

三、應用領域

材料科學：确定合金、陶瓷的相結構，分析晶格畸變。
地質礦物學：鑒定礦物種類及成因，如石英晶軸定向反映地質應力曆史。
半導體工業：優化單晶矽切割方向以提升器件性能。

權威參考文獻：

Cullity, B. D. & Stock, S. R. Elements of X-ray Diffraction. Pearson, 2014. （晶軸測量理論基礎）

Schwartz, A. J. et al. Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. Springer, 2009. （EBSD技術指南）

International Tables for Crystallography. Space-Group Symmetry. Wiley, 2016. （标準晶體學數據庫）

（注：因搜索結果未提供可直接引用的網頁鍊接，本文參考文獻以經典學術著作替代以确保權威性。）

網絡擴展解釋

晶軸的測定是晶體學中的重要概念，主要用于确定晶體坐标系中的參考軸（晶軸），以描述晶體的幾何結構和對稱性。以下是綜合搜索結果和相關知識的解釋：

1.晶軸的定義

晶軸（Crystal Axis）指晶體坐标系中用于描述晶體結構方向的參考軸。通常包括三個主軸（a軸、b軸、c軸），它們相互垂直或按特定角度相交，用于定義晶體的晶胞參數（如長度和夾角）。

2.測定的目的

通過測定晶軸，可确定晶體的對稱性、晶面指數（如密勒指數）以及晶體的物理性質（如光學、電學特性）。

3.測定方法

X射線衍射法：最常用的技術，通過分析晶體對X射線的衍射圖譜，計算晶軸方向和晶胞參數。
光學測角法：測量晶體各晶面之間的角度，結合對稱性推導晶軸方向。
電子顯微鏡分析：結合電子衍射技術，觀察微觀晶體結構并确定晶軸。

4.英語翻譯與術語

晶軸的測定：Axonometry
相關術語：
- 晶軸：Crystal axis / Crystallographic axis。
- 測定：Determination（如“determination of crystal axes”）。

5.應用領域

材料科學（如金屬、半導體分析）、礦物學（礦物鑒定）、化學（分子結構解析）等。

如需更完整的測定流程或具體技術細節，可參考晶體學教材或專業儀器手冊。