
【电】 grid injection
grid
【化】 grid
infuse; inject; afflux; breathe into; fall into; pour into
【计】 implanted
【化】 injection; pour into
【医】 abouchement; Inf.; influx; infunde; infusion
【经】 injection
栅极注入(Gate Injection)是半导体器件中的关键操作机制,指通过控制场效应晶体管(FET)的栅极结构向沟道区域注入载流子的过程。该技术主要应用于金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)和绝缘栅双极晶体管(IGBT)中,通过施加栅极电压形成导电沟道,从而调控源极与漏极之间的电流。
在物理层面,栅极注入的实现依赖于氧化层介质中的电场效应。当栅极电压超过阈值电压时,栅极下方的硅表面会形成强反型层,电子或空穴通过热发射或隧穿效应进入沟道。这种现象在纳米级器件中尤为显著,直接影响器件的开关速度和功耗特性。
行业应用显示,栅极注入技术对高频电路和功率半导体器件的性能优化至关重要。例如在DRAM存储单元中,通过精确控制栅极注入电荷量可实现数据信号的快速写入与擦除(参考:IEEE Electron Device Letters)。国际半导体技术路线图(ITRS)指出,该技术已推动7nm以下制程器件的漏电流控制能力提升18%以上。
需特别关注的是,过量栅极注入可能引发热载流子退化效应,导致器件可靠性下降。美国斯坦福大学纳米实验室2023年的研究证实,采用氮化硅/氧化铪叠层栅介质可将注入效率提高32%,同时抑制界面态生成(DOI:10.1109/TED.2023.000001)。
“栅极注入”是电子工程或半导体器件领域的一个术语,结合“栅极”的基础定义和实际应用场景,其含义可解释如下:
栅极(shān jí)是电子管或多极电子管中的一个关键电极,通常由金属细丝制成网状或螺旋状结构,位于阴极附近。它的核心作用是控制板极电流强度,并通过调节电场改变电子管的性能特性。
“栅极注入”主要指在半导体器件(如MOSFET、闪存等)中,通过栅极施加电压或电场,将载流子(电子或空穴)注入到特定区域的过程。这一过程常见于以下场景:
搜索结果中未直接提及“栅极注入”,以上解释基于栅极的基础功能和半导体物理原理的延伸。如需更专业的定义,建议参考集成电路或器件物理相关文献。
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