
【電】 grid injection
grid
【化】 grid
infuse; inject; afflux; breathe into; fall into; pour into
【計】 implanted
【化】 injection; pour into
【醫】 abouchement; Inf.; influx; infunde; infusion
【經】 injection
栅極注入(Gate Injection)是半導體器件中的關鍵操作機制,指通過控制場效應晶體管(FET)的栅極結構向溝道區域注入載流子的過程。該技術主要應用于金屬-氧化物-半導體場效應晶體管(MOSFET)和絕緣栅雙極晶體管(IGBT)中,通過施加栅極電壓形成導電溝道,從而調控源極與漏極之間的電流。
在物理層面,栅極注入的實現依賴于氧化層介質中的電場效應。當栅極電壓超過阈值電壓時,栅極下方的矽表面會形成強反型層,電子或空穴通過熱發射或隧穿效應進入溝道。這種現象在納米級器件中尤為顯著,直接影響器件的開關速度和功耗特性。
行業應用顯示,栅極注入技術對高頻電路和功率半導體器件的性能優化至關重要。例如在DRAM存儲單元中,通過精确控制栅極注入電荷量可實現數據信號的快速寫入與擦除(參考:IEEE Electron Device Letters)。國際半導體技術路線圖(ITRS)指出,該技術已推動7nm以下制程器件的漏電流控制能力提升18%以上。
需特别關注的是,過量栅極注入可能引發熱載流子退化效應,導緻器件可靠性下降。美國斯坦福大學納米實驗室2023年的研究證實,采用氮化矽/氧化铪疊層栅介質可将注入效率提高32%,同時抑制界面态生成(DOI:10.1109/TED.2023.000001)。
“栅極注入”是電子工程或半導體器件領域的一個術語,結合“栅極”的基礎定義和實際應用場景,其含義可解釋如下:
栅極(shān jí)是電子管或多極電子管中的一個關鍵電極,通常由金屬細絲制成網狀或螺旋狀結構,位于陰極附近。它的核心作用是控制闆極電流強度,并通過調節電場改變電子管的性能特性。
“栅極注入”主要指在半導體器件(如MOSFET、閃存等)中,通過栅極施加電壓或電場,将載流子(電子或空穴)注入到特定區域的過程。這一過程常見于以下場景:
搜索結果中未直接提及“栅極注入”,以上解釋基于栅極的基礎功能和半導體物理原理的延伸。如需更專業的定義,建議參考集成電路或器件物理相關文獻。
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