
【化】 electron diffraction pattern
【計】 electron diffraction
【化】 electron diffraction
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【計】 image; PICT; picture
電子衍射圖象(Electron Diffraction Pattern)是指高能電子束穿透晶體材料時,因原子周期排列産生的相幹散射現象所形成的幹涉條紋或點陣圖案。這種現象由電子波的波動性與晶體結構相互作用産生,是透射電子顯微鏡(TEM)分析中的核心觀測手段,其理論基礎源自1927年戴維森-革末實驗對電子波動性的首次驗證。
在材料科學領域,電子衍射圖象包含兩種典型模式:1)廣角衍射形成的菊池線對,反映晶格長程有序性;2)納米束衍射産生的局部結構信息,適用于亞微米尺度缺陷分析。根據國際晶體學聯合會(International Union of Crystallography)的技術規範,衍射斑點的幾何排列嚴格遵循布拉格方程$nλ=2dsinθ$,其中晶面間距$d$與電子波長$λ$共同決定衍射角$θ$的分布規律。
美國國家标準與技術研究院(NIST)的測試數據顯示,現代場發射TEM設備可實現0.1納米級空間分辨率,配合快速傅裡葉變換(FFT)算法,能夠将衍射圖象實時轉換為倒易空間數據,這對納米材料界面結構和位錯密度的定量分析具有關鍵作用。劍橋大學材料系的案例研究表明,通過比對标準衍射圖譜數據庫(如ICDD-PDF數據庫),該技術已成功解析高溫超導體YBCO中氧空位有序化等亞原子級結構特征。
電子衍射圖像是通過電子束與晶體樣品相互作用後形成的衍射圖樣,用于分析材料的晶體結構和取向。以下是其核心要點:
通過以上特征,電子衍射圖像能夠直觀反映材料的晶體狀态,是透射電鏡(TEM)等儀器的重要分析手段。
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