電子顯微鏡學英文解釋翻譯、電子顯微鏡學的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron microscopy

分詞翻譯：

電子顯微鏡的英語翻譯：

【化】 electron microscope
【醫】 electron microscope

學的英語翻譯：

imitate; knowledge; learn; mimic; school; study; subject of study

專業解析

電子顯微鏡學（Electron Microscopy）是研究利用電子束代替光束成像，以獲取物質超微結構信息的科學領域。其核心原理是通過電磁透鏡聚焦高能電子束穿透或掃描樣品，根據電子與物質的相互作用産生信號，最終形成高分辨率圖像或成分分析數據。

一、核心定義與技術原理

成像基礎
電子顯微鏡利用電子波長遠小于可見光的特性（約0.0025 nm），突破光學顯微鏡的分辨率極限（約200 nm），實現亞納米級觀測。其理論依據是德布羅意波粒二象性及電磁透鏡的聚焦原理。

公式表達：分辨率 ( delta = frac{0.61lambda}{NA} )，其中 (lambda) 為電子波長，(NA) 為數值孔徑。
技術分類
- 透射電子顯微鏡（TEM）：電子束穿透超薄樣品，通過衍射和相位襯度成像，分辨率可達0.1 nm，用于原子級結構分析（來源：ISO 10934:2022 術語标準）。
- 掃描電子顯微鏡（SEM）：電子束掃描樣品表面，收集二次電子和背散射電子信號，實現三維形貌觀測（來源：Nature Reviews Methods Primers）。

二、核心應用領域

材料科學
分析金屬晶格缺陷、納米材料界面結構（如锂電池電極材料研究），引用案例見劍橋大學材料系電子顯微鏡中心。

生命科學
冷凍電鏡（Cryo-EM）技術解析蛋白質三維結構，推動結構生物學發展（2017年諾貝爾化學獎成果），參考EMDB數據庫。

三、權威定義參考

國際标準化組織（ISO）：定義為“利用電子束與樣品相互作用産生信號，通過電磁透鏡系統放大成像的科學技術”（ISO 10934:2022）。
牛津儀器技術白皮書：強調其“通過電子光學系統實現超高分辨率成像及元素分析的綜合學科”（來源：《Advanced Electron Microscopy Techniques》）。

四、關鍵發展裡程碑

1931年：恩斯特·魯斯卡發明首台透射電鏡（1986年諾貝爾物理學獎）
1965年：掃描電鏡實現商業化（劍橋儀器公司）
2010s：球差校正電鏡突破0.05 nm分辨率極限（來源：Science期刊綜述）

術語對照：
電子顯微鏡學 - Electron Microscopy

透射電子顯微鏡 - Transmission Electron Microscope (TEM)

掃描電子顯微鏡 - Scanning Electron Microscope (SEM)

冷凍電鏡 - Cryo-Electron Microscopy (Cryo-EM)

網絡擴展解釋

電子顯微鏡學是研究電子顯微鏡技術及其應用的學科，主要涉及電子束與物質相互作用、高分辨率成像原理以及相關儀器開發。以下是詳細解釋：

1. 學科定義

電子顯微鏡學以電子顯微鏡為核心工具，通過聚焦電子束替代可見光，突破光學顯微鏡的分辨率限制。其核心目标是利用電子波動性（波長更短）實現納米級甚至原子級微觀結構的觀察與分析。

2. 基本原理

電子束波長優勢：根據德布羅意關系式（$lambda = frac{h}{mv}$），加速電壓越高，電子波長越短。例如，100kV電壓下電子波長約0.0037nm，遠小于可見光波長（400-700nm），分辨率可達0.1nm級别。
儀器結構：由電子槍（發射電子束）、電磁透鏡（聚焦電子束）、樣品室（真空環境）、探測器（采集信號）等核心組件構成。

3. 主要分類

透射電鏡（TEM）：通過穿透薄樣品成像，用于觀察晶體結構、細胞内部超微結構。
掃描電鏡（SEM）：通過表面掃描獲取三維形貌信息，分辨率約1-10nm。
其他類型：如反射電鏡（分析表面成分）、環境電鏡（非真空條件觀測）等。

4. 應用領域

材料科學：分析金屬晶體缺陷、納米材料結構；
生命科學：觀察病毒形态、細胞器超微結構；
醫學診斷：輔助腫瘤病理分析、DNA形态研究；
工業檢測：半導體芯片缺陷檢測、催化劑表面表征。

5. 學科特點

相比光學顯微鏡學，電子顯微鏡學需解決真空環境制備、電子束損傷控制、複雜信號解析等技術挑戰，同時依賴物理、化學、計算機等多學科交叉。

注：如需進一步了解具體儀器參數或應用案例，可參考（透射電鏡分辨率）、（醫學應用）等來源。