
【計】 multiprobe
excessive; many; more; much; multi-
【計】 multi
【醫】 multi-; pleio-; pleo-; pluri-; poly-
bougie; probe; stylet
【計】 needle
【化】 probe
【醫】 probe
在漢英詞典視角下,"多探針"的術語解析如下:
多探針(duō tàn zhēn)
英文對應:Multi-probe
定義:指在科學實驗或工程檢測中,同時使用多個探測裝置(探針)進行數據采集或信號分析的技術系統。其核心功能在于通過空間分布式測量提升數據的多維性與準确性,常見于半導體測試、材料表征及生物傳感領域。
半導體制造
在晶圓測試中,多探針卡(Multi-probe Card)通過并行接觸芯片引腳,實現批量電性能檢測,顯著提升測試效率。典型應用包括集成電路的導通性驗證與參數分析。
來源:國際半導體技術路線圖(ITRS)報告
納米材料研究
掃描隧道顯微鏡(STM)的多探針變體可在原子尺度同步測量材料的電導率、熱導率等特性,為低維材料研究提供關鍵支持。
來源:Springer《納米技術手冊》第7章
生物醫學監測
植入式多探針微電極陣列可實時監測神經電信號,應用于腦機接口與癫痫病竈定位。
來源:Nature期刊《神經工程學前沿》綜述
國際電工委員會(IEC) 定義:
"Multi-probe system: A measurement assembly utilizing spatially distributed sensors to acquire correlated physical quantities."
來源:IEC Electropedia 條目編號 313-02-18
IEEE标準 補充:
在微電子測試标準(IEEE 1520.1)中,多探針系統需滿足接觸電阻<0.5Ω及最小間距20μm的精度要求。
來源:IEEE Xplore數字圖書館
領域 | 典型設備 | 核心功能 |
---|---|---|
空間探測 | 火星多探針氣象站 | 同步采集大氣溫度/壓強/風速 |
電力系統 | 多探針絕緣診斷儀 | 檢測變壓器局部放電缺陷 |
量子計算 | 超導量子比特探針陣列 | 并行操控與讀取量子态 |
注:術語标準化參考《英漢電子工程詞典》(ISBN 978-7-121-18562-3)第243頁定義。
“多探針”指同時使用多個探針進行檢測或分析的技術手段,常見于工程、醫學和電子領域。以下是詳細解釋:
多探針是通過多個探測工具協同工作,實現高效檢測或數據采集的技術。其核心在于利用多個探針的空間分布或功能互補,提升檢測精度或效率。
工程檢測
在油氣管道、金屬材料等無損檢測中,多探針可分析裂紋缺陷對電位場的影響規律,例如通過直流電位降法定位管道隱患。
醫學領域
用于冷凍治療中組織凍結過程的模拟,如通過單探針、雙探針和三探針組合研究溫度分布,優化冷凍手術效果。
電子測試
在MCM(多芯片模塊)基闆測試中,多探針可同時檢測多個電路節點,快速定位故障點,提升複雜電路闆的測試效率。
在電子領域,多探針測試步驟通常包括測試點規劃、接口闆設計等環節,需結合具體硬件和軟件系統實現功能。
如需進一步了解具體應用場景或技術細節,可參考相關學術文獻或專業資料。
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