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逆向飽和電流英文解釋翻譯、逆向飽和電流的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【電】 revers saturation current

分詞翻譯:

逆向的英語翻譯:

converse
【計】 negative direction

飽和電流的英語翻譯:

【計】 saturation current
【醫】 saturation current

專業解析

在電子工程領域,"逆向飽和電流"(Reverse Saturation Current)是半導體器件(如二極管)的關鍵參數,其漢英對照及詳細解釋如下:


一、術語定義與物理機制

  1. 漢英對照

    • 中文:逆向飽和電流(亦稱反向飽和電流)
    • 英文:Reverse Saturation Current(符號:$I_S$ 或 $I_0$)
  2. 核心定義

    指PN結二極管在反向偏置電壓下,當外加電壓足夠大時(通常 $-V_D gg kT/q$),反向電流達到的穩定極限值。該電流由少數載流子擴散形成,與反向電壓大小無關,故稱"飽和" 。

  3. 物理機制

    • 少數載流子擴散:反向偏壓下,P區的電子和N區的空穴被拉向結區,形成由熱激發産生的少子擴散電流。
    • 溫度依賴性:遵循公式 $I_S propto T e^{-E_g/(kT)}$,其中 $E_g$ 為半導體禁帶寬度,$k$ 為玻爾茲曼常數,$T$ 為溫度 。

二、影響因素與典型值

  1. 材料特性

    • 矽(Si)二極管:$I_S$ 量級約 $10^{-12}$–$10^{-15}$ A
    • 鍺(Ge)二極管:$I_S$ 量級約 $10^{-6}$–$10^{-9}$ A(因鍺禁帶寬度較小)。
  2. 溫度效應

    溫度每升高10°C,$I_S$ 約增大1倍,顯著影響器件高溫穩定性 。


三、工程意義與應用

  1. 理想二極管方程

    肖克利方程(Shockley diode equation)中的核心參數:

    $$ I_D = I_S left( e^{frac{V_D}{nV_T}} - 1 right) $$

    其中 $V_T = kT/q$ 為熱電壓,$n$ 為發射系數。

  2. 電路設計影響

    • 漏電流來源:在精密電路(如運算放大器輸入級)中,$I_S$ 導緻靜态功耗和信號誤差。
    • 溫度補償設計:需通過負反饋或溫度傳感器抑制 $I_S$ 漂移 。

權威參考文獻

  1. 半導體物理經典著作

    Neamen, D. A. Semiconductor Physics and Devices. McGraw-Hill. (理論推導與溫度模型)鍊接

  2. IEEE标準術語

    IEEE Std 100-2000 Dictionary of IEEE Standards Terms. ("Reverse Saturation Current" 詞條) 鍊接

  3. 國家标準

    GB/T 2900.66-2004 《電工術語 半導體器件和集成電路》. ("反向飽和電流" 定義)

  4. 工程應用指南

    Horowitz, P., & Hill, W. The Art of Electronics. Cambridge University Press. (二極管選型與 $I_S$ 實測方法)鍊接


以上内容綜合半導體物理理論與工程實踐,涵蓋術語定義、物理機制及設計影響,引用來源包括學術教材、國際标準及權威工程手冊。

網絡擴展解釋

反向飽和電流是半導體器件(如二極管)在反向偏置電壓下形成的一種特殊電流現象。以下從定義、形成機制和影響因素三方面詳細解釋:

一、定義與特性

反向飽和電流指當給PN結施加反向電壓時,在特定電壓範圍内電流保持穩定,不再隨電壓增加而變化的現象。這種電流由少數載流子的漂移運動形成,數值通常在微安級(μA)甚至更低。

二、形成機制

  1. 載流子來源:由半導體内部熱激發産生的少數載流子(如P區的自由電子或N區的空穴)形成,與溫度密切相關。
  2. 電壓影響:當反向電壓足夠大時,耗盡層寬度不再顯著變化,可遷移的少數載流子數量趨于飽和,導緻電流穩定。
  3. 單向導電性:PN結的反向偏置阻礙多數載流子擴散,僅允許少數載流子漂移,形成微弱電流。

三、關鍵影響因素

影響因素 作用規律 典型表現
溫度 溫度每升高10℃,電流值約翻倍 本征激發增強導緻載流子增多
材料特性 禁帶寬度越小,反向電流越大 鍺管>矽管(同溫度下)
工藝質量 雜質含量高或結構缺陷會增加漏電流 優質二極管反向電流可達nA級

四、擴展說明

在太陽能電池中,暗電流包含反向飽和電流與其他漏電流成分。三極管也存在類似現象,如集電極反向飽和電流與發射極開路時的少子漂移相關。

建議需要具體參數時,可參考半導體器件手冊中的反向飽和電流溫度特性曲線(如I_S ∝ T³e^{-E_g/(kT)}),這類公式能更精确描述其物理本質。

分類

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