火花源質譜法英文解釋翻譯、火花源質譜法的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 spark source mass spectrometry

分詞翻譯：

火花的英語翻譯：

light; scintilla; spark; sparkle
【醫】 spark

源的英語翻譯：

fountainhead; source
【醫】 source

質譜法的英語翻譯：

【化】 mass spectrometry

專業解析

火花源質譜法（Spark Source Mass Spectrometry，SSMS）是一種結合火花放電離子化技術與質譜分析的高靈敏度檢測方法，主要用于固體材料中痕量元素的定性和定量分析。該方法通過高壓脈沖在樣品表面産生火花放電，使樣品原子電離形成離子束，隨後利用質譜儀根據離子質量-電荷比（m/z）進行分離檢測。

從漢英詞典角度解析，其核心組成包括：

火花源（Spark Source）：通過10⁴-10⁵ V/cm的電場産生瞬時高溫等離子體，實現固體樣品的氣化與電離（參考《分析化學術語國家标準》GB/T 14666-2023）。
雙聚焦質譜儀（Double-Focusing Mass Spectrometer）：采用磁場與電場組合聚焦，分辨率可達10⁴量級，可同時檢測周期表中從锂到鈾的多種元素（來源：美國化學會期刊《Analytical Chemistry》）。

該方法在金屬合金、半導體材料及地質樣品分析中具有獨特優勢，檢測限可達ppb級。例如，國際标準化組織ISO 18114:2020将其列為高純材料雜質分析的推薦方法。

網絡擴展解釋

火花源質譜法（Spark Source Mass Spectrometry，SSMS）是一種主要用于無機成分分析的質譜技術，尤其適用于固體樣品的定性和定量分析。以下是其詳細解釋：

定義與基本原理

技術定義
火花源質譜法屬于無機質譜分析技術，通過高頻火花放電産生離子源，将樣品中的元素電離成離子，再利用磁場和電場（如馬陶赫—赫佐格型雙聚焦離子光學系統）實現離子分離和檢測。
核心原理
- 離子源：高頻火花放電使樣品表面元素電離，生成帶正電荷的離子流。
- 質量分析：通過雙聚焦質譜儀分離不同質荷比（m/z）的離子，降低能量分散對分辨率的影響。
- 檢測方式：傳統方法采用照相感光闆記錄同位素譜線，現代技術也可用電測法直接測量信號強度。

主要特點

高靈敏度與廣泛適用性
- 可檢測幾乎所有元素（包括痕量元素），靈敏度達ppm甚至ppb級别。
- 電離效率差異小（元素間不超過3倍），無需複雜校正即可獲得半定量結果。
結構優勢與局限性
- 優點：儀器結構簡單，選擇效應小，適合複雜基體樣品（如岩石、合金）。
- 缺點：火花源能量分散大，離子流穩定性較差，需結合雙聚焦系統提高精度。
定量方法
- 同位素稀釋法可提升定量準确性，公式為：
  $$ C{text{sample}} = C{text{standard}} cdot frac{R{text{standard}}}{R{text{sample}}} $$
  其中，( C )為濃度，( R )為同位素比值。

典型應用領域

地質與材料科學
- 用于岩石、礦物中微量元素和同位素分析，支持礦産勘探和地球化學研究。
工業與環保
- 分析金屬合金成分、高純度材料雜質檢測，以及環境樣品中的污染物監測。
生物與植物學
- 結合同位素稀釋法，定量檢測植物樣品中的氮、碳、金屬元素等。

與其他質譜技術的對比

輝光放電質譜法（GDMS）：適用于高純材料分析，分辨率更高，但需特定氣體環境。
電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）：常用于液體樣品，靈敏度相近，但需複雜前處理。

如需更深入的儀器參數或案例，可參考來源等網頁。