
【計】 scale merit
【化】 scale; setting
【醫】 dial; scale
【計】 figure of merit
标度優值(Scale Figure of Merit)是工程學和物理學中用于量化系統或材料性能與尺寸關系的評價指标。該術語結合了"标度"(scale,指尺寸或範圍的量級變化)與"優值"(figure of merit,指衡量對象性能優劣的數值),常見于微電子器件、納米材料等領域的研究。
在半導體領域,标度優值常通過公式表達為: $$ FOM = frac{g_m}{Id} cdot frac{1}{C{ox}W/L} $$ 其中$g_m$為跨導,$Id$為漏極電流,$C{ox}$為氧化層電容,W/L為寬長比。這個公式揭示了器件性能與尺寸縮放的關聯性(來源:IEEE Electron Device Letters)。
英國物理學會的《Measurement Science and Technology》期刊指出,标度優值在納米線傳感器研究中被用于評估靈敏度與微型化的平衡關系。美國國家标準與技術研究院(NIST)的技術報告中,該參數被應用于評估微機電系統(MEMS)器件的熱機械性能隨尺寸變化的規律。
“标度優值”是一個較為專業的術語,其含義需結合“标度”和“優值”兩部分理解:
标度(Scale)
指用于計量或劃分的刻度、間隔或标準,如物理儀器上的刻度線()。在技術領域,它可引申為衡量事物規模、等級或程度的依據()。
優值(Figure of Merit)
通常指衡量系統或設備性能的量化指标,例如效率、精度等()。在工程和計算機領域,它用于評估技術方案的綜合表現。
組合含義
“标度優值”可能表示在特定标度體系下評估性能優劣的指标。例如,在計算機算法中,可用标度優值衡量不同參數設置下的效率等級()。
補充說明:
如需更深入的解釋,可參考計算機科學或工程領域的專業詞典或文獻。
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