
【计】 scale merit
【化】 scale; setting
【医】 dial; scale
【计】 figure of merit
标度优值(Scale Figure of Merit)是工程学和物理学中用于量化系统或材料性能与尺寸关系的评价指标。该术语结合了"标度"(scale,指尺寸或范围的量级变化)与"优值"(figure of merit,指衡量对象性能优劣的数值),常见于微电子器件、纳米材料等领域的研究。
在半导体领域,标度优值常通过公式表达为: $$ FOM = frac{g_m}{Id} cdot frac{1}{C{ox}W/L} $$ 其中$g_m$为跨导,$Id$为漏极电流,$C{ox}$为氧化层电容,W/L为宽长比。这个公式揭示了器件性能与尺寸缩放的关联性(来源:IEEE Electron Device Letters)。
英国物理学会的《Measurement Science and Technology》期刊指出,标度优值在纳米线传感器研究中被用于评估灵敏度与微型化的平衡关系。美国国家标准与技术研究院(NIST)的技术报告中,该参数被应用于评估微机电系统(MEMS)器件的热机械性能随尺寸变化的规律。
“标度优值”是一个较为专业的术语,其含义需结合“标度”和“优值”两部分理解:
标度(Scale)
指用于计量或划分的刻度、间隔或标准,如物理仪器上的刻度线()。在技术领域,它可引申为衡量事物规模、等级或程度的依据()。
优值(Figure of Merit)
通常指衡量系统或设备性能的量化指标,例如效率、精度等()。在工程和计算机领域,它用于评估技术方案的综合表现。
组合含义
“标度优值”可能表示在特定标度体系下评估性能优劣的指标。例如,在计算机算法中,可用标度优值衡量不同参数设置下的效率等级()。
补充说明:
如需更深入的解释,可参考计算机科学或工程领域的专业词典或文献。
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