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金屬氧化物半導體存儲器英文解釋翻譯、金屬氧化物半導體存儲器的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯:

【計】 metal oxide semiconductor memory; metal-oxide-semiconductor memory
MOS memory

分詞翻譯:

金屬氧化物半導體的英語翻譯:

【計】 MOS

存儲器的英語翻譯:

storage; store
【計】 M; memorizer; S

專業解析

金屬氧化物半導體存儲器(Metal-Oxide-Semiconductor Memory,簡稱MOS Memory)是一種基于金屬-氧化物-半導體場效應晶體管(MOSFET)結構的半導體存儲器件。其核心原理是通過控制栅極電壓調節源極與漏極之間的導電狀态,利用電荷存儲機制實現數據讀寫。

從結構上看,MOS存儲器由以下三部分構成:

  1. 金屬栅極(Metal Gate):通過施加電壓控制導電溝道的形成;
  2. 氧化物絕緣層(Oxide Layer):通常為二氧化矽(SiO₂),用于隔離栅極與半導體基闆;
  3. 半導體基闆(Semiconductor Substrate):多采用矽材料,形成源極和漏極區域。

該技術主要分為動态隨機存取存儲器(DRAM)和閃存(Flash Memory)兩大類型。DRAM通過電容存儲電荷表示二進制數據,需周期性刷新;而閃存利用浮栅結構實現非易失性存儲,廣泛應用于固态硬盤(SSD)領域。

在工業應用中,MOS存儲器因具備高集成度、低功耗和可擴展性優勢,已成為現代計算機系統的主要存儲介質。國際半導體技術路線圖(ITRS)指出,當前先進制程的3D NAND閃存單元尺寸已突破5nm技術節點(來源:IEEE Xplore電子工程數據庫)。

可靠性研究表明,氧化層擊穿電壓和電荷保持能力是影響器件壽命的關鍵參數。美國國家标準技術研究院(NIST)的測試數據顯示,商用MOS存儲器的數據保持時間可達10年以上(來源:NIST半導體材料特性報告)。

網絡擴展解釋

金屬氧化物半導體存儲器(Metal-Oxide-Semiconductor Memory,簡稱MOS存儲器)是一種基于半導體技術的數字存儲設備,主要用于計算機和其他電子系統中存儲二進制數據。以下是其核心要點:

1.基本定義與分類

2.技術特點

3.應用領域

4.市場地位

補充說明

如需進一步了解具體技術細節或應用案例,可參考來源網頁中的完整内容。

分類

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