金屬氧化物半導體存儲器英文解釋翻譯、金屬氧化物半導體存儲器的近義詞、反義詞、例句
英語翻譯:
【計】 metal oxide semiconductor memory; metal-oxide-semiconductor memory
MOS memory
分詞翻譯:
金屬氧化物半導體的英語翻譯:
【計】 MOS
存儲器的英語翻譯:
storage; store
【計】 M; memorizer; S
專業解析
金屬氧化物半導體存儲器(Metal-Oxide-Semiconductor Memory,簡稱MOS Memory)是一種基于金屬-氧化物-半導體場效應晶體管(MOSFET)結構的半導體存儲器件。其核心原理是通過控制栅極電壓調節源極與漏極之間的導電狀态,利用電荷存儲機制實現數據讀寫。
從結構上看,MOS存儲器由以下三部分構成:
- 金屬栅極(Metal Gate):通過施加電壓控制導電溝道的形成;
- 氧化物絕緣層(Oxide Layer):通常為二氧化矽(SiO₂),用于隔離栅極與半導體基闆;
- 半導體基闆(Semiconductor Substrate):多采用矽材料,形成源極和漏極區域。
該技術主要分為動态隨機存取存儲器(DRAM)和閃存(Flash Memory)兩大類型。DRAM通過電容存儲電荷表示二進制數據,需周期性刷新;而閃存利用浮栅結構實現非易失性存儲,廣泛應用于固态硬盤(SSD)領域。
在工業應用中,MOS存儲器因具備高集成度、低功耗和可擴展性優勢,已成為現代計算機系統的主要存儲介質。國際半導體技術路線圖(ITRS)指出,當前先進制程的3D NAND閃存單元尺寸已突破5nm技術節點(來源:IEEE Xplore電子工程數據庫)。
可靠性研究表明,氧化層擊穿電壓和電荷保持能力是影響器件壽命的關鍵參數。美國國家标準技術研究院(NIST)的測試數據顯示,商用MOS存儲器的數據保持時間可達10年以上(來源:NIST半導體材料特性報告)。
網絡擴展解釋
金屬氧化物半導體存儲器(Metal-Oxide-Semiconductor Memory,簡稱MOS存儲器)是一種基于半導體技術的數字存儲設備,主要用于計算機和其他電子系統中存儲二進制數據。以下是其核心要點:
1.基本定義與分類
- 定義:通過金屬氧化物半導體(MOS)結構實現電荷存儲的集成電路,其存儲單元由MOS晶體管或電容器構成。
- 主要類型:
- 靜态RAM(SRAM):每個存儲單元由多個MOS晶體管組成,無需刷新即可保持數據,速度快但集成度較低。
- 動态RAM(DRAM):每個單元由單個MOS晶體管和電容器構成,需周期性刷新數據,集成度高且成本低。
2.技術特點
- 制造工藝:包括NMOS、CMOS等,其中CMOS(互補MOS)因低功耗特性廣泛應用于現代存儲器。
- 性能優勢:相比傳統存儲介質(如磁盤),具有速度快、體積小、功耗低的特點。
- 局限性:速度低于雙極型存儲器,但集成度和成本優勢顯著。
3.應用領域
- 主要用于計算機内存(如DRAM)、高速緩存(如SRAM)及嵌入式系統。
- 在消費電子、通信設備等領域也廣泛應用,支撐數據實時處理需求。
4.市場地位
- 半導體存儲器占全球集成電路産業的22.6%(2022年數據),與邏輯芯片并列為兩大支柱。
補充說明
- 與CMOS的區别:CMOS特指互補型MOS電路,常用于低功耗場景(如BIOS芯片),而MOS存儲器涵蓋更廣泛的存儲技術。
如需進一步了解具體技術細節或應用案例,可參考來源網頁中的完整内容。
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