場緻發射顯微鏡英文解釋翻譯、場緻發射顯微鏡的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 field emission microscope(FEM)

分詞翻譯：

場的英語翻譯：

field; a level open space; scene
【化】 field
【醫】 field; plant

緻的英語翻譯：

deliver; devote; extend; cause; delicate; fine; incur; send

發射的英語翻譯：

launch; discharge; shoot; project; eradiate; let fly; transmit
【醫】 emission

顯微鏡的英語翻譯：

microscope
【化】 microscope
【醫】 microscope

專業解析

場緻發射顯微鏡（Field Emission Microscope, FEM）是一種基于場緻發射現象的高分辨率表面分析儀器，其英文全稱中的"field emission"指材料表面在強電場作用下發射電電子的物理過程。該技術由德國物理學家Erwin Müller于1936年首次實現，通過在超高真空環境中對金屬針尖施加高電壓（通常為3-10 kV），使尖端産生足夠強的電場（約10-10 V/cm）引發表面電子隧穿，發射電子經電場加速後撞擊熒光屏形成原子級分辨圖像。

該設備的核心組件包含納米級曲率半徑的金屬針尖、熒光屏和真空系統。其工作原理遵循Fowler-Nordheim方程： $$ J = frac{AβE}{φ} expleft(-frac{Bφ^{3/2}}{βE}right) $$ 其中J為發射電流密度，E為電場強度，φ為功函數，A、B為常數，β為場增強因子。該公式定量描述了場發射電流與電場強度的非線性關系。

在材料科學領域，場緻發射顯微鏡主要應用于：

金屬表面原子結構表征（空間分辨率約2-3 nm）
表面吸附原子擴散動力學研究
功函數分布測量
場發射材料性能評估

權威參考文獻可參閱Springer出版的《Handbook of Microscopy for Nanotechnology》（2005年）第7章，以及美國物理聯合會《應用物理雜志》1956年刊載的Müller團隊研究成果。該技術雖已被掃描隧道顯微鏡超越，但仍是理解場發射現象的基礎工具。

網絡擴展解釋

場緻發射顯微鏡（Field Emission Microscope，FEM）是一種基于場發射效應的高分辨率顯微技術，主要用于原子尺度下的表面結構研究。以下是綜合多來源信息的詳細解釋：

1.基本原理

場緻發射顯微鏡通過強電場使金屬針尖表面的電子發生量子隧穿效應，從而發射電子。這些電子經加速後撞擊熒光屏，形成與針尖表面原子排列對應的圖像。其核心在于利用電場強度高達 (10 sim 10 , text{V/cm}) 的環境，使電子無需加熱即可逸出表面（即“冷發射”）。

2.曆史發展

1936年：米勒（Muller）首次發明場發射顯微鏡，但直到二戰後才被重視。
1937年：Muller進一步提出場緻發射顯微鏡概念，用于觀察晶體排列和表面吸附現象。
理論奠基：1928年，彌勒和諾德海姆通過波動力學解釋了場緻發射現象，為技術發展奠定基礎。

3.技術特點

超高分辨率：可直接觀察原子級表面結構，如吸附原子的遷移和解吸過程。
無需樣品處理：樣品通常為尖銳金屬針尖，避免傳統顯微鏡的複雜制樣流程。
依賴真空環境：需結合超高真空技術以減少氣體分子幹擾。

4.應用領域

表面科學：研究不同晶面的吸附特性、原子擴散行為等。
材料分析：在納米科技和材料表面物理中用于微觀結構表征。
早期單分子成像：甚至可捕捉個别吸附分子的圖像。

5.與其他技術的區别

與傳統電子顯微鏡：場緻發射顯微鏡（FEM）使用冷發射電子源，而場發射掃描電鏡（FE-SEM）屬于掃描電鏡的改進型，電子束更細、分辨率更高。
與光學顯微鏡：光學顯微鏡依賴光學透鏡放大（如-6所述），而FEM基于電子發射成像，分辨率提升數個數量級。

通過以上特點，場緻發射顯微鏡成為表面科學和納米技術中不可或缺的工具，但其操作複雜性和對真空環境的高要求也限制了部分應用場景。