掃描電子束英文解釋翻譯、掃描電子束的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 scanning beam; sweeping beam

分詞翻譯：

掃描的英語翻譯：

scan; scanning
【計】 fineness; scanning
【醫】 scanning

電子束的英語翻譯：

【計】 E beam
【化】 electron beam
【醫】 electron beam

專業解析

掃描電子束（Scanning Electron Beam）是電子光學領域的關鍵技術術語，指通過電磁場控制的高能電子束在樣品表面進行逐點掃描的物理過程。該技術廣泛應用于掃描電子顯微鏡（SEM），其核心原理為：電子槍發射的電子經加速電壓作用形成束流，經電磁透鏡聚焦後，以光栅掃描模式轟擊樣品表面，激發出二次電子、背散射電子等信號，最終通過探測器成像。

從功能特性看，掃描電子束具備三要素：

定向可控性：通過掃描線圈實現納米級精度的二維偏轉（公式：$Δx = k cdot I_x$，其中$I_x$為線圈電流）
高能聚焦：采用靜電透鏡或電磁透鏡将電子束直徑縮小至1-10 nm範圍
信號交互：電子束與物質相互作用産生多種可檢測信號，包括特征X射線（用于元素分析）

在工業标準層面，中國國家标準GB/T 30537-2019《微束分析掃描電子顯微鏡能譜儀定量分析通則》明确規定了掃描電子束的技術參數範圍及檢測方法。國際權威期刊《Ultramicroscopy》2023年的研究指出，現代場發射掃描電子束的分辨率已突破0.4 nm，較傳統鎢燈絲技術提升近10倍。

該技術的應用延伸至：

材料科學：納米材料表面形貌表征（引用自《材料科學學報》2024年綜述）
生物醫學：細胞超微結構觀測（參照Springer《生物電子顯微鏡技術》第3章）
電子工程：集成電路缺陷檢測（基于IEEE Transactions on Electron Devices最新實驗數據）

網絡擴展解釋

“掃描電子束”是電子技術中的一個複合概念，需要從“掃描”和“電子束”兩個角度綜合解釋：

一、關于“掃描”

掃描指通過電子束、無線電波等載體，按照特定路徑在水平或垂直方向移動的過程。常見于以下場景：

成像設備：如顯像管中，電子束逐點、逐行掃描熒光屏形成畫面；
信號探測：雷達通過掃描搜索目标，示波器通過掃描展示電信號波形。

二、關于“電子束**

電子束是由陰極産生的電子在高壓電場（25-300kV）下加速形成的高速密集電子流，速度可達光速的0.3-0.7倍。其特點包括：

高能量密度：適合材料加工、醫學治療等場景；
成像應用：如電子顯微鏡、電視機顯像管中通過電子束撞擊熒光物質成像。

三、掃描電子束的典型應用

在電子束CT等設備中，掃描電子束的具體工作流程為：

電子槍發射電子束，通過磁場聚焦成毫米級小焦點；
偏轉線圈控制電子束旋轉轟擊鎢靶，産生X射線完成掃描；
單次掃描周期可短至116毫秒，層厚精度達1.5-10毫米。

四、公式表達

掃描頻率可通過以下公式計算： $$ f = frac{1}{T} $$ 其中，$T$為電子束完成一次完整掃描的時間周期。

注：以上内容綜合了電子束的物理特性和掃描技術原理，適用于材料分析、醫學成像等領域。