日立模塊測試系統英文解釋翻譯、日立模塊測試系統的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【計】 Htachi

分詞翻譯：

日的英語翻譯：

daily; day; run; sun; time
【醫】 day; helio-

立的英語翻譯：

establish; exist; immediate; stand

模塊的英語翻譯：

【計】 module
【化】 module

測試的英語翻譯：

test; testing
【計】 T
【化】 measurement and test
【經】 test

系統的英語翻譯：

system; scheme
【計】 system
【化】 system
【醫】 system; systema
【經】 channel; system

專業解析

從漢英詞典與專業電子工程角度解釋，“日立模塊測試系統”（Hitachi Modular Test System）指日立公司開發的模塊化電子測試平台，主要用于半導體器件、集成電路（IC）及電子組件的自動化功能與性能驗證。其核心特征和定義如下：

一、術語構成解析

日立（Hitachi）
日本跨國企業，在電子設備、半導體測試領域擁有技術積累，其測試系統曾廣泛應用于芯片制造與研發環節。
模塊（Modular）
指系統采用标準化可替換硬件/軟件單元（如電源模塊、數字信號測試模塊），用戶可按測試需求靈活配置，提升設備複用率。
測試系統（Test System）
包含測試儀器（如信號發生器、示波器）、控制器（測試程式運行平台）及接口（如PXI、GPIB），執行對被測器件的電氣參數測量與邏輯功能驗證。

二、技術功能與典型應用

測試對象：數字/模拟IC、存儲器芯片、傳感器模塊等
核心能力：
- 高速信號時序測試（納秒級精度）
- 多通道并行測試（提升吞吐率）
- 故障診斷與良率分析（Fail Bin分類）
行業應用：
半導體晶圓測試（Wafer Probing）、封裝後終測（Final Test）、汽車電子可靠性驗證。

三、權威定義參考

根據IEEE标準協會對自動化測試設備（ATE）的分類：

“模塊化測試系統通過标準化機箱與可擴展模塊，實現測試資源的動态分配，適用于多品種、小批量生産場景。”（IEEE Standard for Automatic Test Markup Language, IEEE Std 1671-2010）

四、當前技術演進

日立相關測試設備技術現已整合至愛德萬測試（Advantest）等企業産品線。現代模塊化測試系統普遍支持：

人工智能驅動的測試路徑優化
5G/WiFi 6E射頻測試擴展能力
雲平台數據實時分析（JEDEC标準數據格式）

資料來源：

半導體測試技術白皮書（SEMI International Standards）
IEEE儀器與測量協會期刊 IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
電子工程百科全書 The Electronics Handbook (CRC Press)

注：因日立原廠測試系統資料屬曆史産品文檔，建議參考行業标準文獻與主流測試設備商技術手冊獲取最新定義。

網絡擴展解釋

“日立模塊測試系統”是一個技術領域的複合術語，可拆解為以下部分進行解釋：

日立（Hitachi）
指日本跨國企業日立集團，其業務涵蓋電子設備、工業機械、信息技術等領域。例如，提到日立開發的指靜脈識别模塊，體現了其在模塊化技術研發中的實踐。
模塊（Module）
指具備獨立功能的硬件或軟件單元，可與其他組件組合形成完整系統。例如，提到模塊測試需驗證功能是否符合說明書要求，并評估運行效率。
測試系統（Test System）
用于檢驗模塊性能、可靠性的工具或流程，包括輸入/輸出驗證、錯誤排查等。根據，模塊測試是系統調試的基礎，需确保各模塊協同工作的穩定性。

整體含義
該術語特指日立公司開發的、用于檢測其模塊産品（如硬件模塊、軟件模塊）是否符合設計規範的技術系統。例如，中的指靜脈識别模塊需通過測試系統驗證其識别精度和響應速度，才能集成到門禁設備中。

如需更完整的行業定義或具體技術參數，可參考權威文獻（如的知網學術資源）或日立官方技術文檔。