abbr. X射線衍射（X-Ray Diffraction）；X射線粉末衍射（X-Ray Powder Diffraction）
XRD patterns showed that the cathode material is well-crystallized, homogeneous olivine-type phase, with only tiny trivalence iron impurities.
XRD 圖譜表明，陰極材料結晶完整，為均一橄榄石型結構，僅含少量三價鐵雜質。
Crystal structure and morphology are confirmed by XRD.
利用XRD證明了晶體結構及形态。
XRD patterns show that the hybrid material is amorphous.
XRD分析表明，雜化材料是無定形的。
Its structure and composition were analyzed by SEM and XRD.
使用SEM和XRD對樣品的結構和組成進行了分析。
Its crystal lattice structure and parameters were tested by XRD.
通過XRD測定了它的晶格結構和晶胞參數。
XRD的全稱是X射線衍射（X-Ray Diffraction），它是一種通過分析材料對X射線的衍射現象來研究物質微觀結構的技術。以下是詳細解釋：
XRD基于布拉格定律（Bragg's Law），其公式為： $$ 2dsintheta = nlambda $$ 其中：
當X射線照射到晶體材料時，晶體中規則排列的原子會使X射線發生相幹散射，并在特定角度産生衍射峰。通過測量衍射角度（(2theta)）和強度，可解析材料的晶體結構。
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XRD，全稱為X射線衍射（X-ray diffraction）。是一種材料分析技術，通過測量材料中X射線的散射模式來确定材料的結構和成分。
XRD常用于材料科學、地球科學、化學、生物學等領域。通過對X射線的分析，可以确定樣品的晶體結構、材料的相位組成、晶格常數等。
XRD使用X射線散射的原理來确定材料的結構和成分。當X射線通過晶體時，會被晶體中的原子散射，形成一定的幹涉模式。通過測量X射線的散射角度和強度，可以确定晶體的晶格常數和結構信息。
XRD的近義詞包括X-ray powder diffraction、X射線粉末衍射、XRD分析等。
XRD的反義詞沒有明确的定義，但與其相似的技術包括X射線熒光光譜、掃描電鏡等。
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