
abbr. X射線衍射(X-Ray Diffraction);X射線粉末衍射(X-Ray Powder Diffraction)
XRD patterns showed that the cathode material is well-crystallized, homogeneous olivine-type phase, with only tiny trivalence iron impurities.
XRD 圖譜表明,陰極材料結晶完整,為均一橄榄石型結構,僅含少量三價鐵雜質。
Crystal structure and morphology are confirmed by XRD.
利用XRD證明了晶體結構及形态。
XRD patterns show that the hybrid material is amorphous.
XRD分析表明,雜化材料是無定形的。
Its structure and composition were analyzed by SEM and XRD.
使用SEM和XRD對樣品的結構和組成進行了分析。
Its crystal lattice structure and parameters were tested by XRD.
通過XRD測定了它的晶格結構和晶胞參數。
XRD(X射線衍射,X-Ray Diffraction)是一種基于晶體材料對X射線衍射效應進行分析的非破壞性檢測技術。當X射線照射到晶體時,原子規則排列産生的晶格會與入射X射線發生相互作用,形成特定的衍射圖譜,通過分析圖譜可獲取材料的晶體結構、晶格參數、物相組成等信息。
原理與布拉格定律
XRD的核心原理由布拉格父子提出的布拉格方程描述:
$$
nλ = 2dsinθ
$$
其中,(n)為衍射級數,(λ)為X射線波長,(d)為晶面間距,(θ)為入射角。該公式揭示了衍射角與晶面間距的定量關系,成為物相鑒定的理論基礎(來源:Bragg W L, Bragg W H. The Reflection of X-rays by Crystals. Proceedings of the Royal Society of London, 1913)。
主要應用領域
技術發展
現代XRD設備結合同步輻射光源和二維探測器,可實現原位動态觀測,例如在電池充放電過程中實時監測電極材料的結構演變(來源:歐洲同步輻射裝置,ESRF)。
XRD的全稱是X射線衍射(X-Ray Diffraction),它是一種通過分析材料對X射線的衍射現象來研究物質微觀結構的技術。以下是詳細解釋:
XRD基于布拉格定律(Bragg's Law),其公式為: $$ 2dsintheta = nlambda $$ 其中:
當X射線照射到晶體材料時,晶體中規則排列的原子會使X射線發生相幹散射,并在特定角度産生衍射峰。通過測量衍射角度((2theta))和強度,可解析材料的晶體結構。
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