
abbr. X射线衍射(X-Ray Diffraction);X射线粉末衍射(X-Ray Powder Diffraction)
XRD patterns showed that the cathode material is well-crystallized, homogeneous olivine-type phase, with only tiny trivalence iron impurities.
XRD 图谱表明,阴极材料结晶完整,为均一橄榄石型结构,仅含少量三价铁杂质。
Crystal structure and morphology are confirmed by XRD.
利用XRD证明了晶体结构及形态。
XRD patterns show that the hybrid material is amorphous.
XRD分析表明,杂化材料是无定形的。
Its structure and composition were analyzed by SEM and XRD.
使用SEM和XRD对样品的结构和组成进行了分析。
Its crystal lattice structure and parameters were tested by XRD.
通过XRD测定了它的晶格结构和晶胞参数。
XRD(X射线衍射,X-Ray Diffraction)是一种基于晶体材料对X射线衍射效应进行分析的非破坏性检测技术。当X射线照射到晶体时,原子规则排列产生的晶格会与入射X射线发生相互作用,形成特定的衍射图谱,通过分析图谱可获取材料的晶体结构、晶格参数、物相组成等信息。
原理与布拉格定律
XRD的核心原理由布拉格父子提出的布拉格方程描述:
$$
nλ = 2dsinθ
$$
其中,(n)为衍射级数,(λ)为X射线波长,(d)为晶面间距,(θ)为入射角。该公式揭示了衍射角与晶面间距的定量关系,成为物相鉴定的理论基础(来源:Bragg W L, Bragg W H. The Reflection of X-rays by Crystals. Proceedings of the Royal Society of London, 1913)。
主要应用领域
技术发展
现代XRD设备结合同步辐射光源和二维探测器,可实现原位动态观测,例如在电池充放电过程中实时监测电极材料的结构演变(来源:欧洲同步辐射装置,ESRF)。
XRD的全称是X射线衍射(X-Ray Diffraction),它是一种通过分析材料对X射线的衍射现象来研究物质微观结构的技术。以下是详细解释:
XRD基于布拉格定律(Bragg's Law),其公式为: $$ 2dsintheta = nlambda $$ 其中:
当X射线照射到晶体材料时,晶体中规则排列的原子会使X射线发生相干散射,并在特定角度产生衍射峰。通过测量衍射角度((2theta))和强度,可解析材料的晶体结构。
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