高分辨电镜英文解释翻译、高分辨电镜的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 high-resolution electron microscope; HREM

分词翻译：

高的英语翻译：

high; high-priced; lofty; loud; tall
【医】 homo-; hyper-; hypsi-; hypso-; per-

分辨的英语翻译：

differentiate; distinguish; tell apart
【医】 resolution

电镜的英语翻译：

【电】 electric mirror

专业解析

High-Resolution Electron Microscope (HREM)，中文称“高分辨电子显微镜”，是一种基于电子束与物质相互作用原理的显微成像设备，能够在原子尺度（通常达0.1纳米以下）解析材料的晶体结构、缺陷和化学成分分布。其核心技术依赖于电子光学系统对透射或散射电子的高灵敏度检测，结合傅里叶变换算法重构样品相位信息，从而实现亚埃级分辨率成像。

在材料科学领域，HREM被广泛应用于半导体器件、催化剂、纳米材料等微观结构的表征。例如，美国国家标准与技术研究院（NIST）的研究表明，通过球差校正技术（Cs-correction），现代HREM已能直接观测金属氧化物表面氧空位的动态迁移过程。牛津大学出版社《显微分析进展》期刊指出，该设备配合X射线能谱仪（EDS）后，可同步实现元素分布图谱的定量分析。

国际电子显微学联合会（IFSM）的技术白皮书强调，HREM的操作需严格遵循真空环境（<10⁻⁷ Pa）和低温样品台控制（液氮冷却至-180℃），以最大限度减少电子束辐照引起的样品损伤。德国马普学会固体研究所2024年发布的案例证实，利用单色化电子源可将能散度降至0.2 eV，显著提升轻元素（如锂、硼）的成像对比度。

网络扩展解释

高分辨电镜（High-Resolution Transmission Electron Microscopy, HRTEM）是一种用于观察材料原子级结构的先进电子显微技术。以下从多个角度详细解释其含义和特点：

1.定义与核心特点

定义：HRTEM通过透射电子束与样品相互作用，利用电子波的干涉效应成像，可直接观测晶体中的原子排列、晶格缺陷等超微结构。
分辨率：普通透射电镜（TEM）分辨率通常在0.2-0.3 nm，而HRTEM借助球差校正技术可达到原子级分辨率（约0.1 nm以下），甚至能区分单个原子。

2.成像原理

干涉成像模式：HRTEM基于多束电子波的相干叠加形成图像，需严格满足晶带轴对准和特定离焦条件。
图像类型：
- 晶格条纹像：显示晶格周期性排列（标尺约2-5 nm），适用于快速判断结晶性。
- 二维结构像：反映原子排列的真实投影，需复杂参数调控和计算模拟验证。

3.应用领域

材料科学：分析纳米颗粒、晶体缺陷（如位错、层错）、界面结构等。
半导体与化学：观测量子点、二维材料（如石墨烯）的原子级形貌及掺杂分布。
生物与医学（需特殊制样）：研究蛋白质、病毒等生物大分子结构。

4.与其他电镜的区别

与普通TEM：普通TEM侧重形貌观察（标尺≥10 nm），HRTEM牺牲衬度以提升分辨率，专注晶体结构细节。
与扫描电镜（SEM）：SEM通过表面信号成像，分辨率受限于电子束斑尺寸（约1 nm），而HRTEM基于透射信号，分辨率更高。
与球差电镜：球差电镜是HRTEM的进阶技术，通过校正球面像差进一步提升分辨率。

5.技术挑战

样品要求：需超薄样品（通常＜100 nm），制备难度高。
操作复杂性：需精确控制电压、物镜光阑和离焦量，并配合图像模拟分析。

总结来看，高分辨电镜是材料微观结构研究的核心工具，其原子级成像能力为纳米科技、半导体等领域提供了关键技术支持。实际应用中需根据研究目标选择成像模式，并综合衍射数据与计算分析验证结果。