
【计】 hangover time
"闭锁时间"(英文:Latch-up Time)是电子工程与系统控制领域的专业术语,指电路或设备在异常电压或电流触发后,进入非正常导通状态并维持该状态的持续时间。该现象常见于集成电路中的寄生晶闸管效应,可导致系统功能失效甚至硬件损坏。
核心特征与技术背景
触发机制
闭锁时间始于寄生PNPN结构被触发导通,通常由电压瞬变、电流浪涌或辐射干扰引起。例如,CMOS电路中电源电压超过额定值的150%时,可能触发寄生双极晶体管导通。
持续时间维度
典型闭锁时间范围为100纳秒至数毫秒,具体取决于半导体材料特性与电路设计。工业级芯片通常通过掺金工艺将闭锁时间控制在1微秒以内。
系统级影响
在电力电子系统中,闭锁时间过长可能导致:
防护技术关联性
现代集成电路采用深阱隔离、保护环(Guard Ring)和瞬态电压抑制二极管(TVS)等设计,可将闭锁时间缩短60%以上。航空航天领域更要求闭锁时间耐受单粒子效应能力达到MIL-STD-883G标准。
“闭锁时间”是一个多领域术语,具体含义需结合应用场景理解。以下是主要领域的解释:
在配电线路自动化中,闭锁时间指开关设备在特定条件下触发保护机制的延时设定,包括两种类型:
指系统或设备因故障或保护机制触发的暂时性封锁时段,例如通信系统中的“blocking time”表示接收器因干扰暂停工作的时段(需注意此解释来自低权威性来源)。
在机械领域(如枪械),闭锁指部件结合方式,但未明确涉及时间参数。
建议:若需更精确的解释,请提供具体应用场景(如电力、医学等)。
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