
【計】 hangover time
"閉鎖時間"(英文:Latch-up Time)是電子工程與系統控制領域的專業術語,指電路或設備在異常電壓或電流觸發後,進入非正常導通狀态并維持該狀态的持續時間。該現象常見于集成電路中的寄生晶閘管效應,可導緻系統功能失效甚至硬件損壞。
核心特征與技術背景
觸發機制
閉鎖時間始于寄生PNPN結構被觸發導通,通常由電壓瞬變、電流浪湧或輻射幹擾引起。例如,CMOS電路中電源電壓超過額定值的150%時,可能觸發寄生雙極晶體管導通。
持續時間維度
典型閉鎖時間範圍為100納秒至數毫秒,具體取決于半導體材料特性與電路設計。工業級芯片通常通過摻金工藝将閉鎖時間控制在1微秒以内。
系統級影響
在電力電子系統中,閉鎖時間過長可能導緻:
防護技術關聯性
現代集成電路采用深阱隔離、保護環(Guard Ring)和瞬态電壓抑制二極管(TVS)等設計,可将閉鎖時間縮短60%以上。航空航天領域更要求閉鎖時間耐受單粒子效應能力達到MIL-STD-883G标準。
“閉鎖時間”是一個多領域術語,具體含義需結合應用場景理解。以下是主要領域的解釋:
在配電線路自動化中,閉鎖時間指開關設備在特定條件下觸發保護機制的延時設定,包括兩種類型:
指系統或設備因故障或保護機制觸發的暫時性封鎖時段,例如通信系統中的“blocking time”表示接收器因幹擾暫停工作的時段(需注意此解釋來自低權威性來源)。
在機械領域(如槍械),閉鎖指部件結合方式,但未明确涉及時間參數。
建議:若需更精确的解釋,請提供具體應用場景(如電力、醫學等)。
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