
【化】 line profile
谱线轮廓(spectral line profile)在光谱学中指特定电磁辐射谱线的强度随波长或频率变化的分布形态。该概念是天体物理学、量子力学和化学分析的核心参数,可反映辐射源的温度、压力、运动状态及周围环境相互作用。
从汉英词典角度解析:"谱线"对应英文"spectral line",指物质原子或分子跃迁时发射或吸收的离散波长辐射;"轮廓"译为"profile",描述该谱线在光谱图中的形状特征。两者结合后,术语强调对谱线形态的定量刻画,例如高斯轮廓、洛伦兹轮廓及沃伊特轮廓等数学建模方式。
实际应用中,谱线轮廓的展宽机制包含三类:
在恒星大气分析中,天文学家通过Hα谱线轮廓变化推算恒星自转速度(《天体物理期刊》2019年研究)。工业领域则利用红外吸收谱轮廓进行材料成分检测(ISO 18473-3标准)。
谱线轮廓是光谱学中的核心概念,指原子或分子发射或吸收的光谱线强度随频率(或波长)分布的形状特征。以下是详细解释:
谱线轮廓描述的是光谱线内能量随波长或频率的相对分布形式。例如,在原子吸收光谱(AAS)中,原子从基态跃迁到激发态时吸收的谱线并非理想单色线,而是具有一定宽度和形状的分布曲线。
谱线轮廓反映了原子跃迁过程中能量分布的微观机制。实际观测中,谱线因多普勒效应、碰撞展宽等物理过程而呈现非对称或展宽形态。例如,发射线轮廓通常以强度峰值(I_0)和半峰宽(Delta u)描述。
在光谱分析中,谱线轮廓的精确测量对研究天体物理、等离子体诊断等至关重要。例如,通过分析恒星光谱的轮廓,可推断其温度、密度及运动状态。
如需进一步了解谱线展宽机制(如自然展宽、压力展宽),可参考搜索来源中的高权威性网页(如、4、5)。
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