同时故障模拟英文解释翻译、同时故障模拟的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 concurrent fault simulation

分词翻译：

同时的英语翻译：

at one time; at the same time; contemporary; meanwhile; simultaneously
【医】 simul

故障模拟的英语翻译：

【计】 fault simulation

专业解析

同时故障模拟（Concurrent Fault Simulation）详解

在电子工程和计算机工程领域，特别是在集成电路（IC）测试与可靠性分析中，“同时故障模拟”（Concurrent Fault Simulation）是一种高效的故障注入与仿真技术。其核心目标是评估数字电路在存在潜在制造缺陷（即“故障”）时的行为表现，从而验证测试向量的有效性或预测电路的可靠性。

1. 基本概念与术语

中文：同时故障模拟
英文： Concurrent Fault Simulation
核心思想：在单次电路仿真运行过程中，并行地评估电路在多个故障同时存在（或依次注入）下的逻辑行为。这与传统的“串行故障模拟”（Serial Fault Simulation）形成对比，后者需要为每个待测故障单独运行一次仿真。
关键特征： “同时”（Concurrent）体现在对多个故障影响的并行计算上，而非指所有故障物理上同时发生。它利用无故障电路（Good Circuit）的仿真结果作为基础，智能地计算故障电路（Faulty Circuit）的输出，避免重复计算公共部分。

2. 技术原理与工作方式同时故障模拟的核心在于高效管理多个故障场景的状态：

基础仿真：首先对无故障电路进行一次完整的逻辑仿真（Logic Simulation），记录所有信号节点的状态变化（称为“事件”，Event）。
故障列表管理：维护一个待模拟的故障列表（Fault List）。每个故障通常表示为电路中特定节点的固定逻辑值（如 Stuck-at-0, Stuck-at-1）。
差异传播：当仿真进行时，系统监控故障注入点（Fault Site）。一旦无故障电路中的信号值与注入的故障值不同（产生“差异”，Difference），该差异会被标记。
并行效应计算：系统尝试将该差异（以及后续可能衍生的差异）通过电路逻辑门传播到可观测的输出端（如主输出或扫描链触发器）。这个传播过程利用了无故障仿真的结果，只计算受差异影响的路径部分，而非重新仿真整个故障电路。多个故障的差异传播可以在同一仿真时间帧内并行处理。
故障检测判定：如果某个故障引起的差异成功传播到至少一个可观测输出端，并且在该输出端产生了与无故障电路不同的值（即错误值），则该故障被当前输入的测试向量（Test Vector）检测到。检测到的故障会被标记并从后续模拟的故障列表中移除（或标记为已检测）。
效率优势：由于大量共享了无故障电路的仿真结果，并且只增量计算故障效应，同时故障模拟比串行模拟（每个故障单独仿真整个电路）快得多，尤其对于大型电路和大量故障的情况。

3. 主要应用场景

测试向量评估 (Test Vector Evaluation / Grading)：评估一组测试向量（Test Pattern Set）能够检测到电路制造缺陷（故障）的比例（故障覆盖率，Fault Coverage）。这是其最核心的应用。
测试生成辅助 (Test Generation)：某些自动测试生成（ATPG）算法内部使用同时故障模拟来高效评估候选测试向量对未检测故障的效果。
可靠性分析 (Reliability Analysis)：评估电路在存在特定故障或故障组合时是否仍能产生正确输出（容错能力分析），或预测故障率。
设计验证 (Design Verification)：在特定场景下验证电路在非理想（含故障）条件下的功能是否正确。

4. 优势与局限

优势：
- 高效率：相比串行模拟，速度提升显著，尤其适合大规模电路。
- 节省资源：减少计算时间和内存消耗。
局限：
- 实现复杂度：算法实现相对复杂，需要高效的数据结构管理故障列表和差异传播。
- 内存消耗：虽然比串行模拟节省总资源，但管理大量故障状态仍需可观内存。
- 精度考量：某些高级故障模型（如时序故障、桥接故障）或复杂电路行为（如三态总线）的精确模拟可能更具挑战性。

5. 权威参考资料

《数字系统测试与可测试性设计》（Digital Systems Testing and Testable Design） - Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman。经典教材，详细阐述了包括同时故障模拟在内的各种测试技术原理。来源：Wiley-IEEE Press。
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems。该顶级期刊经常刊登关于故障模拟算法改进、应用及高效实现的研究论文。来源：IEEE Xplore Digital Library。
《VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability》 - Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen。另一本权威教材，涵盖测试基础与DFT，包含对故障模拟技术的讨论。来源：Morgan Kaufmann Publishers (Elsevier)。
《Fault-Tolerant Systems》 - Israel Koren, C. Mani Krishna。本书更侧重于容错，但也涉及用于可靠性评估的故障注入与模拟技术背景。来源：Morgan Kaufmann Publishers (Elsevier)。

网络扩展解释

同时故障模拟是一种电路测试技术，主要用于高效评估多个故障对电路行为的影响。其核心原理和特点如下：

1.基本定义

同时故障模拟通过引入「故障表」概念，在单次模拟流程中同时处理多个故障。这种方法避免了传统逐次故障模拟的重复计算，显著提升效率。

2.技术实现

故障表机制：记录电路中所有待测故障的状态（如激活/未激活），通过逻辑运算并行跟踪故障传播路径。
单遍模拟：输入测试矢量后，电路逻辑值和所有故障效应在同一模拟周期内完成计算。

3.主要优势

高效性：相比并行故障模拟（并行处理单故障）和演绎故障模拟（基于故障效应推导），同时故障模拟减少了计算冗余，适用于大规模电路。
测试优化：常与测试生成算法交替使用，可缩短测试矢量长度，降低测试成本。

4.应用场景

主要用于集成电路测试领域，验证测试集的有效性、评估故障覆盖率，以及分析新设计电路的可靠性。

对比其他方法

并行故障模拟：通过硬件并行处理多个单故障，依赖计算资源。
演绎故障模拟：基于逻辑推导预测故障传播，适合小规模电路但复杂度高。