電子顯微鏡微分析器英文解釋翻譯、電子顯微鏡微分析器的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron microscope microanalyser(EMMA)

分詞翻譯：

電子顯微鏡的英語翻譯：

【化】 electron microscope
【醫】 electron microscope

微的英語翻譯：

decline; profound; tiny
【計】 mic-; micro-
【醫】 micr-; micro-; mikro-; mu

分析器的英語翻譯：

【計】 analyzer
【化】 analyzer
【醫】 analysor; analyzer

專業解析

電子顯微鏡微分析器（Electron Microscope Microanalyzer），簡稱EMMA或EPMA（Electron Probe Microanalyzer），是一種結合電子顯微鏡成像與微區成分分析功能的高精度科學儀器。它利用聚焦的高能電子束轟擊樣品微小區域（通常為微米至亞微米尺度），通過檢測激發出的特征X射線或陰極熒光信號，實現對樣品表面元素組成及分布的定性與定量分析。以下是其核心概念的詳細解釋：

一、術語定義與核心功能

電子顯微鏡基礎
以高能電子束代替光源，利用電磁透鏡聚焦成像，具備納米級分辨率觀察能力（如SEM、TEM）。微分析器作為其功能擴展模塊，集成于鏡體内部。
微分析原理
電子束激發樣品原子内層電子，産生特征X射線（能量或波長特定）。通過檢測這些X射線：
- 能譜儀（EDS）：測量X射線能量，快速定性/半定量分析元素（輕元素至鈾）。
- 波譜儀（WDS）：分光晶體衍射測量波長，精度更高（檢出限達ppm級），適合痕量元素分析。

二、技術特點與應用場景

空間分辨率優勢
分析區域可小至1微米（常規EDS）或0.1微米（高亮度場發射源），適用于：
- 金屬夾雜物成分鑒定
- 半導體器件摻雜分布測繪
- 地質礦物微區共生結構分析。
定量分析能力
基于ZAF（原子序數-吸收-熒光）校正模型或φ(ρz)算法，将X射線強度轉化為元素濃度，誤差可控制在1-5%内（需标樣校準）。
多維數據關聯
同步獲取形貌（SE/BSE圖像）、成分（元素面分布圖）及晶體結構（EBSD）信息，支撐材料失效分析、仿生材料研究等跨學科需求。

三、典型應用領域

材料科學：合金相鑒定、塗層成分梯度測量（如熱障塗層Y₂O₃-ZrO₂）。
地學與考古：隕石礦物成因分析、陶瓷釉料溯源。
微電子：芯片焊點界面金屬間化合物（如Cu₆Sn₅）生長監控。

權威參考來源

國家标準《GB/T 18907-2013 微束分析電子探針顯微分析（EPMA）術語》
Oxford Instruments官網技術白皮書 Principles of EDS/WDS Microanalysis
Springer手冊 Microscopy Methods in Materials Science (ISBN 978-3-030-69466-1), Chapter 5

網絡擴展解釋

電子顯微鏡微分析器（Electron Microscope Microanalyzer）是一種結合電子顯微鏡與微區成分分析功能的精密儀器，主要用于在微觀尺度下對樣品的結構和化學成分進行同步分析。以下從定義、功能、技術分類及應用領域進行說明：

1. 基本定義

該設備基于電子顯微鏡技術（如透射電鏡或掃描電鏡），通過檢測電子束與樣品相互作用産生的特征信號（如X射線、二次電子等），實現對微米甚至納米級區域的元素成分定性和定量分析。

2. 核心功能

結構成像：利用電子束穿透或掃描樣品，形成高分辨顯微圖像（如TEM可觀察原子級結構，SEM顯示表面形貌）。
成分分析：通過能譜儀（EDS）或波譜儀（WDS）檢測特征X射線，确定元素種類及含量。

3. 技術分類

分析類型	原理與特點
能譜分析 (EDS)	快速檢測元素（通常Z≥5），適合大面積成分掃描
波譜分析 (WDS)	分辨率更高，可區分相鄰元素譜線，適合痕量元素檢測
電子能量損失譜 (EELS)	通過電子能量損失分析輕元素（如碳、氮），常用于TEM系統

4. 典型應用

材料科學：金屬、半導體材料的缺陷分析與元素分布表征；
生物醫學：細胞組織内元素定位（如鈣、磷分布研究）；
地質學：礦物微區成分鑒定及成因分析。

5. 技術優勢

相比傳統單獨使用顯微鏡或光譜儀，微分析器實現了“觀察-分析”一體化，空間分辨率可達納米級别，檢測限低至0.1wt%，大幅提升微觀研究的綜合效率。

提示：如需具體設備型號或操作原理擴展，可參考電子顯微鏡廠商（如JEOL、Thermo Fisher）的技術文檔。