電子顯微鏡英文解釋翻譯、電子顯微鏡的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron microscope
【醫】 electron microscope

分詞翻譯：

電子的英語翻譯：

electron
【化】 electron
【醫】 e.; electron

顯微鏡的英語翻譯：

microscope
【化】 microscope
【醫】 microscope

專業解析

電子顯微鏡（Electron Microscope）是以電子束為照明源，利用電磁透鏡聚焦成像的高分辨率顯微分析設備。其工作原理基于電子與物質相互作用産生的二次電子、背散射電子等信號，通過探測器轉換形成顯微圖像。根據成像模式差異，主要分為透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）兩大類，其中場發射掃描電鏡（FE-SEM）分辨率可達0.6納米（參考：中國科學院物理研究所《顯微分析技術原理》）。

該設備包含三大核心系統：①電子光學系統（電子槍、聚光鏡、物鏡），②真空系統（維持10⁻³~10⁻⁵ Pa工作環境），③信號檢測系統（二次電子探測器、X射線能譜儀）。德國物理學家Ernst Ruska于1931年研制出首台原型機，為此獲得1986年諾貝爾物理學獎（來源：諾貝爾獎官網）。

在材料科學領域，TEM可解析晶體原子排列（如石墨烯層狀結構），SEM廣泛應用于半導體缺陷檢測。生物醫學中，冷凍電鏡技術（Cryo-EM）實現了蛋白質三維重構突破，相關成果獲2017年諾貝爾化學獎（引證：《自然》期刊顯微技術專題）。

網絡擴展解釋

電子顯微鏡（Electron Microscope）是一種利用電子束代替可見光來觀察樣品微觀結構的高分辨率成像設備。以下是其核心要點：

1.基本原理

電子束替代光線：傳統光學顯微鏡受限于光的波長（約400-700納米），而電子束波長更短（如0.0025納米），顯著提高分辨率。
電磁透鏡聚焦：通過電磁場（非玻璃透鏡）控制電子束路徑，形成放大圖像。
真空環境：避免電子與空氣分子碰撞，需将樣品置于真空腔中。

2.主要類型

透射電子顯微鏡（TEM）：
- 電子穿透超薄樣品（通常<100納米），生成内部結構的二維投影圖像。
- 分辨率可達0.1納米，用于原子級觀察（如晶體缺陷、病毒結構）。
掃描電子顯微鏡（SEM）：
- 電子束掃描樣品表面，檢測反射或激發的二次電子，形成表面形貌三維圖像。
- 分辨率約1-10納米，適用于材料斷口、昆蟲表皮等觀測。

3.關鍵應用領域

材料科學：分析金屬、陶瓷的微觀缺陷及納米材料結構。
生物學與醫學：觀察細胞超微結構、蛋白質複合體及病原體（如病毒顆粒）。
半導體工業：檢測芯片電路納米級缺陷。

4.優缺點

優勢：
- 分辨率遠超光學顯微鏡（最高達原子級别）。
- 可結合能譜儀（EDS）進行元素分析。
局限：
- 樣品需導電或鍍膜處理（SEM），或超薄切片（TEM）。
- 設備昂貴，維護複雜，操作需專業培訓。

5.發展簡史

1931年：德國科學家恩斯特·魯斯卡發明首台透射電鏡，1986年獲諾貝爾物理學獎。
1965年：掃描電鏡商業化，推動表面形貌研究的普及。

電子顯微鏡的發明徹底改變了人類對微觀世界的認知，成為現代科學不可或缺的工具。隨着技術發展，冷凍電鏡（Cryo-EM）等新型技術進一步拓展了其在生物大分子結構解析中的應用。