电子显微镜英文解释翻译、电子显微镜的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【化】 electron microscope
【医】 electron microscope

分词翻译：

电子的英语翻译：

electron
【化】 electron
【医】 e.; electron

显微镜的英语翻译：

microscope
【化】 microscope
【医】 microscope

专业解析

电子显微镜（Electron Microscope）是以电子束为照明源，利用电磁透镜聚焦成像的高分辨率显微分析设备。其工作原理基于电子与物质相互作用产生的二次电子、背散射电子等信号，通过探测器转换形成显微图像。根据成像模式差异，主要分为透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）两大类，其中场发射扫描电镜（FE-SEM）分辨率可达0.6纳米（参考：中国科学院物理研究所《显微分析技术原理》）。

该设备包含三大核心系统：①电子光学系统（电子枪、聚光镜、物镜），②真空系统（维持10⁻³~10⁻⁵ Pa工作环境），③信号检测系统（二次电子探测器、X射线能谱仪）。德国物理学家Ernst Ruska于1931年研制出首台原型机，为此获得1986年诺贝尔物理学奖（来源：诺贝尔奖官网）。

在材料科学领域，TEM可解析晶体原子排列（如石墨烯层状结构），SEM广泛应用于半导体缺陷检测。生物医学中，冷冻电镜技术（Cryo-EM）实现了蛋白质三维重构突破，相关成果获2017年诺贝尔化学奖（引证：《自然》期刊显微技术专题）。

网络扩展解释

电子显微镜（Electron Microscope）是一种利用电子束代替可见光来观察样品微观结构的高分辨率成像设备。以下是其核心要点：

1.基本原理

电子束替代光线：传统光学显微镜受限于光的波长（约400-700纳米），而电子束波长更短（如0.0025纳米），显著提高分辨率。
电磁透镜聚焦：通过电磁场（非玻璃透镜）控制电子束路径，形成放大图像。
真空环境：避免电子与空气分子碰撞，需将样品置于真空腔中。

2.主要类型

透射电子显微镜（TEM）：
- 电子穿透超薄样品（通常<100纳米），生成内部结构的二维投影图像。
- 分辨率可达0.1纳米，用于原子级观察（如晶体缺陷、病毒结构）。
扫描电子显微镜（SEM）：
- 电子束扫描样品表面，检测反射或激发的二次电子，形成表面形貌三维图像。
- 分辨率约1-10纳米，适用于材料断口、昆虫表皮等观测。

3.关键应用领域

材料科学：分析金属、陶瓷的微观缺陷及纳米材料结构。
生物学与医学：观察细胞超微结构、蛋白质复合体及病原体（如病毒颗粒）。
半导体工业：检测芯片电路纳米级缺陷。

4.优缺点

优势：
- 分辨率远超光学显微镜（最高达原子级别）。
- 可结合能谱仪（EDS）进行元素分析。
局限：
- 样品需导电或镀膜处理（SEM），或超薄切片（TEM）。
- 设备昂贵，维护复杂，操作需专业培训。

5.发展简史

1931年：德国科学家恩斯特·鲁斯卡发明首台透射电镜，1986年获诺贝尔物理学奖。
1965年：扫描电镜商业化，推动表面形貌研究的普及。

电子显微镜的发明彻底改变了人类对微观世界的认知，成为现代科学不可或缺的工具。随着技术发展，冷冻电镜（Cryo-EM）等新型技术进一步拓展了其在生物大分子结构解析中的应用。