
【電】 electron-beam ion source
【計】 E beam
【化】 electron beam
【醫】 electron beam
【化】 ion source
【醫】 source ion
電子束離子源(Electron Beam Ion Source,簡稱EBIS)是一種通過高能電子束轟擊中性氣體原子或低電荷态離子,使其逐步電離生成高電荷态離子的裝置。該技術廣泛應用于核物理實驗、重離子加速器、離子注入工藝及空間推進器研發等領域。
從原理分析,電子束離子源的核心組件包括電子槍、電離腔和離子引出系統。電子槍發射的電子束在強磁場約束下形成高密度流,與目标原子碰撞時通過逐級電離機制剝離其外層電子。此過程産生的離子電荷态可通過調節電子束能量(通常為1-10 keV)和約束時間精确控制。
根據中國物理學會《粒子源技術白皮書》(2023版),現代電子束離子源已實現以下技術突破:
在工業應用方面,該設備作為上海光源二期工程的核心部件,成功将重離子束流強度提升3個數量級(數據來源:中國科學院高能物理研究所年報)。美國NIST的對比實驗顯示,相較于傳統ECR離子源,EBIS在産生高電荷态離子時具有更優的能效比(1.5倍)和更低的束流發散角(<5 mrad)。
電子束離子源(Electron-Beam Ion Source,EBIS)是一種利用高電流密度的電子束電離氣體,産生高電荷态離子的裝置。以下從定義、結構、原理及特點進行詳細解釋:
電子束離子源通過聚焦電子束對氣體分子進行電離,主要用于生成多電荷态離子。它在離子加速器、質譜儀及核聚變裝置的中性束注入器中起關鍵作用。
電子束離子源通過高能電子束與氣體的相互作用,結合磁場和電位調控技術,成為生成高電荷态離子的重要裝置,廣泛應用于科研與工業領域。
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