
【化】 axonometry
infer; measure; survey
brilliant; crystal; glittering
imitate; knowledge; learn; mimic; school; study; subject of study
測晶學(Crystallography)是研究晶體結構、性質及其形成規律的學科,其英文術語由“crystal”(晶體)和“graphy”(記錄/描述)組合而成。該學科通過分析晶體的幾何形态、對稱性、原子排列及物理化學性質,揭示物質微觀結構與宏觀性能的關聯。
基于群論分析晶體的32種點群和230種空間群,描述原子在三維空間的周期性排列規律。例如,X射線衍射技術可測定晶胞參數和原子坐标。
研究溶液、熔體或氣相中晶核形成與生長的動力學過程,涉及成核能壘、界面能等參數。
通過電子顯微鏡和中子衍射解析晶體缺陷(如位錯、空位)對材料導電性、力學強度的影響。
引用來源:
“測晶學”這一術語的釋義可綜合如下:
詞義解析:
構詞分析
學科定義
根據的翻譯,“測晶學”對應的英文為axonometry,屬于化學領域的分支,推測其可能涉及晶體結構的幾何測量與分析,例如通過軸測投影法研究晶體形态或空間結構。
補充說明
由于搜索結果中權威資料有限,建議結合專業化學或材料學文獻進一步确認該術語的具體應用場景。當前解釋主要基于構詞邏輯和有限的翻譯信息推導而來。
若需深入理解,可參考晶體學(Crystallography)相關領域,該學科涵蓋晶體測量、對稱性分析等内容,可能與“測晶學”存在關聯。
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