
n. 雙折射檢查儀
雙折射儀(Birefringencemeter)是一種用于測量材料雙折射現象的精密光學儀器。雙折射(Birefringence)指某些各向異性材料(如晶體、塑料或玻璃)在不同方向上的折射率存在差異的光學特性。該儀器通過分析偏振光穿過被測材料時的相位延遲或光強變化,量化雙折射程度,其結果通常以納米延遲值或光程差表示。
在工業應用中,雙折射儀被廣泛用于評估光學元件(如透鏡、光纖)的應力分布,以及液晶顯示面闆的分子排列均勻性。例如,美國材料試驗協會(ASTM)在标準測試方法中提及,雙折射測量是評估聚合物薄膜質量的關鍵指标。德國卡爾·蔡司公司官網的技術文檔顯示,其研發的雙折射儀可檢測納米級相位差,為半導體光刻鏡頭制造提供關鍵數據支持。
Birefringencemeter(雙折射檢查儀)是一個專業術語,主要用于光學或材料科學領域,其核心功能是檢測材料的雙折射特性。以下是詳細解釋:
詞源與構成
該詞由兩部分組成:
功能與用途
該儀器通過測量光通過材料後的偏振變化,分析材料的雙折射性質。常見應用包括:
專業背景
雙折射現象與材料的各向異性有關,例如石英、方解石等晶體具有天然雙折射性。通過測量雙折射參數(如光程差),可推斷材料内部應力或結構特征。
發音與翻譯
英式發音為 [ˌbaɪrfrɪnˈdʒensɪmiːtə],美式發音類似。中文譯名“雙折射檢查儀”直接體現其功能。
如需進一步了解具體設備型號或操作原理,可參考光學工程或材料檢測領域的專業文獻。
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