
n. 双折射检查仪
双折射仪(Birefringencemeter)是一种用于测量材料双折射现象的精密光学仪器。双折射(Birefringence)指某些各向异性材料(如晶体、塑料或玻璃)在不同方向上的折射率存在差异的光学特性。该仪器通过分析偏振光穿过被测材料时的相位延迟或光强变化,量化双折射程度,其结果通常以纳米延迟值或光程差表示。
在工业应用中,双折射仪被广泛用于评估光学元件(如透镜、光纤)的应力分布,以及液晶显示面板的分子排列均匀性。例如,美国材料试验协会(ASTM)在标准测试方法中提及,双折射测量是评估聚合物薄膜质量的关键指标。德国卡尔·蔡司公司官网的技术文档显示,其研发的双折射仪可检测纳米级相位差,为半导体光刻镜头制造提供关键数据支持。
Birefringencemeter(双折射检查仪)是一个专业术语,主要用于光学或材料科学领域,其核心功能是检测材料的双折射特性。以下是详细解释:
词源与构成
该词由两部分组成:
功能与用途
该仪器通过测量光通过材料后的偏振变化,分析材料的双折射性质。常见应用包括:
专业背景
双折射现象与材料的各向异性有关,例如石英、方解石等晶体具有天然双折射性。通过测量双折射参数(如光程差),可推断材料内部应力或结构特征。
发音与翻译
英式发音为 [ˌbaɪrfrɪnˈdʒensɪmiːtə],美式发音类似。中文译名“双折射检查仪”直接体现其功能。
如需进一步了解具体设备型号或操作原理,可参考光学工程或材料检测领域的专业文献。
【别人正在浏览】