
【电】 impact diodes
charge; clash; rinse; rush
【机】 buck
cross a river; ferry; pull through
diode
【化】 diode
在电子工程领域,“冲渡二极管”并非标准术语,其含义更接近穿通二极管(Punch-Through Diode) 或与击穿现象(Breakdown) 相关。以下是基于专业文献的汉英对照解释:
穿通效应(Punch-Through Effect)
当二极管反向偏压极高时,耗尽区扩展至整个半导体区域,导致载流子“穿通”势垒直接导通。此现象常见于高电压器件,如功率二极管。
英文对照:
Punch-through occurs when the depletion region spans the entire semiconductor layer, enabling carrier injection without avalanche multiplication .
击穿机制(Breakdown Mechanism)
“冲渡”可能指雪崩击穿(Avalanche Breakdown) 或齐纳击穿(Zener Breakdown):
$$ I = I_0 cdot e^{(V/V_B)^n} $$
((V_B)为击穿电压,(n)为材料系数)
英文对照:
Avalanche breakdown involves carrier multiplication via impact ionization, whereas Zener breakdown results from quantum tunneling .
穿通二极管设计原理
根据 IEEE 标准术语,穿通二极管需满足:
$$ W_d geq L $$
((W_d)为耗尽区宽度,(L)为器件长度)
详见:
击穿特性应用
齐纳二极管用于稳压电路时,需精确控制掺杂浓度以设定击穿电压:
$$ V_B propto frac{1}{N_A cdot N_D} $$
参考:
中文 | 英文 | 定义场景 |
---|---|---|
穿通二极管 | Punch-Through Diode | 耗尽区全覆盖的导通 |
雪崩击穿 | Avalanche Breakdown | 碰撞电离引发的击穿 |
齐纳击穿 | Zener Breakdown | 量子隧穿导致的击穿 |
注:部分文献中“冲渡”可能是“穿通”或“击穿”的地方性表述,建议优先使用标准术语。
当前没有关于“冲渡二极管”这一术语的权威解释或定义。可能的情况包括:
关于二极管的标准定义如下(综合多个来源):
建议核实术语准确性,或补充更多上下文以便进一步解答。
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