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冲渡二极管英文解释翻译、冲渡二极管的近义词、反义词、例句

英语翻译:

【电】 impact diodes

分词翻译:

冲的英语翻译:

charge; clash; rinse; rush
【机】 buck

渡的英语翻译:

cross a river; ferry; pull through

二极管的英语翻译:

diode
【化】 diode

专业解析

在电子工程领域,“冲渡二极管”并非标准术语,其含义更接近穿通二极管(Punch-Through Diode) 或与击穿现象(Breakdown) 相关。以下是基于专业文献的汉英对照解释:


一、核心概念

  1. 穿通效应(Punch-Through Effect)

    当二极管反向偏压极高时,耗尽区扩展至整个半导体区域,导致载流子“穿通”势垒直接导通。此现象常见于高电压器件,如功率二极管。

    英文对照:

    Punch-through occurs when the depletion region spans the entire semiconductor layer, enabling carrier injection without avalanche multiplication .

  2. 击穿机制(Breakdown Mechanism)

    “冲渡”可能指雪崩击穿(Avalanche Breakdown) 或齐纳击穿(Zener Breakdown):

    • 雪崩击穿:高反向电压下载流子碰撞电离引发连锁反应,电流急剧增大。

      $$ I = I_0 cdot e^{(V/V_B)^n} $$

      ((V_B)为击穿电压,(n)为材料系数)

    • 齐纳击穿:强电场直接破坏共价键,多见于高掺杂PN结(击穿电压<5V)。

      英文对照:

      Avalanche breakdown involves carrier multiplication via impact ionization, whereas Zener breakdown results from quantum tunneling .


二、权威文献参考

  1. 穿通二极管设计原理

    根据 IEEE 标准术语,穿通二极管需满足:

    $$ W_d geq L $$

    ((W_d)为耗尽区宽度,(L)为器件长度)

    详见:

    • Neamen, D. A. Semiconductor Physics and Devices (4th ed.), McGraw-Hill, 2012, pp. 318-320 .
  2. 击穿特性应用

    齐纳二极管用于稳压电路时,需精确控制掺杂浓度以设定击穿电压:

    $$ V_B propto frac{1}{N_A cdot N_D} $$

    参考:

    • Sze, S. M. Physics of Semiconductor Devices (3rd ed.), Wiley, 2007, §4.4 .

三、工程应用场景


术语对照表

中文 英文 定义场景
穿通二极管 Punch-Through Diode 耗尽区全覆盖的导通
雪崩击穿 Avalanche Breakdown 碰撞电离引发的击穿
齐纳击穿 Zener Breakdown 量子隧穿导致的击穿

注:部分文献中“冲渡”可能是“穿通”或“击穿”的地方性表述,建议优先使用标准术语。

网络扩展解释

当前没有关于“冲渡二极管”这一术语的权威解释或定义。可能的情况包括:

  1. 术语拼写错误:如“冲渡”可能是“肖特基”(Schottky)、“雪崩”(Avalanche)或“隧道二极管”(Tunnel Diode)等专业术语的误写。例如,肖特基二极管具有低正向压降特性()。
  2. 非标准用语:该词可能是某些方言或非学术场景中的表达,但未在电子工程领域通用。

关于二极管的标准定义如下(综合多个来源):

建议核实术语准确性,或补充更多上下文以便进一步解答。

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