
【电】 structure factor
frame; structure; composition; configuration; construction; fabric; mechanism
【计】 frame work
【医】 constitution; formatio; formation; installation; structure; tcxture
factor
【电】 factor
结构因数是晶体学与材料科学中的核心概念,指用于定量描述晶体中原子排列对X射线或电子衍射强度影响的物理量,英文对应为Structure Factor(S)。其数学表达式为: $$ S(hkl) = sum_{j=1}^{N} f_j cdot e^{2pi i (hx_j + ky_j + lz_j)} $$ 其中:
“结构因数”是一个多学科交叉的术语,在不同领域有特定含义,需结合具体语境理解:
指描述多孔材料内部微观结构(如孔隙形状、方向、分布等)对声学特性影响的无因次修正参数。例如,在吸声材料理论中,假设孔隙为规则排列的毛细管模型,但实际材料结构复杂,需引入结构因数修正理论与实际的偏差,其数值范围通常在2-10之间,极端情况下可达20-25。
在X射线衍射中,结构因数(符号$F{HKL}$)用于表征晶体单胞内原子种类、数量及位置对特定晶面(HKL)衍射强度的综合影响。其定义为晶胞总散射振幅与单个电子散射振幅的比值,数学表达式为: $$ F{HKL} = sum_j f_j e^{2pi i (hx_j + ky_j + lz_j)} $$ 其中$f_j$为原子散射因子,$(x_j,y_j,z_j)$为原子坐标。该参数仅与原子种类和位置相关,与晶胞尺寸无关。
建议在实际应用中结合具体学科文献进一步确认定义。
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