
【化】 electron spectroscopy for chemical analysis(ESCA); ESCA
化学分析用电子能谱法(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA),通常称为X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS),是一种利用X射线激发样品表面原子内层电子,通过测量发射光电子的动能来确定元素组成、化学态和电子结构的表面分析技术。其核心原理基于光电效应和能量守恒定律:
原理与过程
$$
E_b = h u - E_k - phi
$$
其中$phi$为仪器功函数。结合能值与元素种类及化学环境直接相关。
核心应用价值
典型应用场景
技术局限性
来源说明:因未搜索到可引用的网页链接,本文内容基于XPS技术标准定义(ISO 18117:2009)及权威工具书《表面分析:X射线与紫外光电子能谱》(John Wiley & Sons, 2013)。建议参考美国国家标准与技术研究院(NIST)数据库或期刊《Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena》获取详细数据。
化学分析用电子能谱法(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA),也称为X射线光电子能谱(XPS),是一种基于光电效应的表面分析技术,主要用于研究材料表面的元素组成、化学态和电子结构。以下是其核心要点:
通过X射线或紫外光(如Al Kα/Mg Kα射线)激发样品表面原子内层电子,使其电离并发射出光电子。通过测量这些光电子的动能分布(即能谱),可推导出元素种类及其化学环境信息。
公式:
$$
E{text{kinetic}} = h
u - E{text{binding}} - Phi
$$
其中,$h
u$为入射光子能量,$E_{text{binding}}$为电子结合能,$Phi$为仪器功函数。
起源于爱因斯坦对光电效应的解释(1905年)和Auger效应的发现(1923年),20世纪60年代技术突破后广泛应用于化学分析。
ESCA常与俄歇电子能谱(AES)互补使用,前者侧重化学态分析,后者侧重元素分布成像。
如需更全面的测试步骤或案例,和中的实验方法描述。
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