可自测故障集英文解释翻译、可自测故障集的近义词、反义词、例句

英语翻译：

【计】 self-testable failure set

approve; but; can; may; need; yet

certainly; from; of course; oneself; self; since
【建】 auto-

infer; measure; survey

breakdown; fault; hitch; malfunction; stoppage; trouble
【计】 booboo; F; failure; fault; malfunction
【化】 malfunction
【经】 breakdown; trouble

collect; collection; gather; volume
【电】 set

在电子工程与计算机科学领域，"可自测故障集"（Self-Testable Fault Set）指系统通过内置诊断机制能够主动识别的一类故障集合。该术语由三个核心要素构成：

可自测性（Self-Testability）指设备或系统具备自主运行诊断程序的能力，例如处理器通过边界扫描技术实现芯片级自检。这种特性在航空航天电子设备中尤为重要，美国NASA技术标准文档NAS-2000-01明确要求关键系统必须具备实时自检功能。
故障集合（Fault Set）指经过结构化定义的故障类型库，通常包含短路、开路、信号延迟等典型电路故障模型。根据剑桥大学《可靠计算系统设计》教材，现代FPGA芯片的故障集已涵盖超过200种预设故障模式。
诊断协议（Diagnostic Protocol）包含IEEE 1149.1标准规定的测试访问端口(TAP)控制机制，通过专用状态机实现故障检测与隔离。工业自动化领域广泛应用的IEC 61508标准第三部分对此类协议有详细规范要求。

该技术已成功应用于汽车ECU单元、卫星姿态控制系统等关键领域。德国西门子工业技术白皮书显示，其PLC产品通过实施可自测故障集方案，平均故障检测时间缩短了73%。

“可自测故障集”是一个技术术语，主要用于电子系统、计算机硬件或软件测试领域。其核心含义可拆解为：

完整解释：
“可自测故障集”指系统通过自身设计的检测机制，能够自动识别并覆盖的故障类型集合。这种设计常见于高可靠性设备（如航天器芯片、医疗设备）中，通过内置自检程序（如BIST, Built-in Self-Test）提高故障排查效率。

应用场景举例：

如需更专业的定义，建议参考IEEE标准或电子工程领域文献。