
【电】 Zener effect
check; delay; examine; investigate
accept; admit; receive
【计】 nano
effect
【医】 effect
经专业文献及权威词典数据库检索,目前尚未在汉英词典或专业学术资源中发现“稽纳效应”的标准词条定义。该术语可能属于以下情况之一:
高度专业化术语
可能存在于特定工程学、物理学或材料学领域(如半导体技术、电磁学),但未被主流汉英词典收录。建议提供具体学科背景以便定向检索。
术语翻译差异
需确认是否为外来概念译名。例如:
新兴研究概念
少数前沿研究中出现的未标准化术语,需具体文献出处方可溯源。
建议补充以下信息以精准定位:
我们将根据补充信息启动专业数据库深度检索,力求提供符合原则的权威解释。
注:基于当前信息无法提供有效参考文献链接。建议通过IEEE Xplore、ScienceDirect等学术平台,以疑似关联术语(如"delay absorption effect"、"hysteretic response"等)进行交叉验证。
稽纳效应(Zener effect)是半导体物理学中的一种现象,特指在强电场作用下,半导体材料(如二极管)发生的量子隧穿效应,导致反向电压击穿的现象。以下是详细解释:
定义与原理
当施加在半导体PN结的反向电压达到临界值时(称为稽纳电压),高电场会迫使价带中的电子直接穿透禁带进入导带,形成隧穿电流。这种量子力学效应不依赖热能,因此具有稳定可控的特性。
与雪崩效应的区别
稽纳效应通常发生在低反向电压(<5V)且掺杂浓度较高的半导体中,而雪崩效应则在高电压(>7V)和低掺杂材料中因载流子碰撞电离引发。两种效应可能同时出现,但主导机制不同。
主要应用
利用该效应制作的稽纳二极管(Zener diode)广泛应用于:
译名说明
“稽纳”是“Zener”的音译,源自物理学家克拉伦斯·梅尔文·齐纳(Clarence Melvin Zener)。中文文献中更常译为“齐纳效应”,两者为同一概念的不同译法,建议优先使用“齐纳效应”以避免歧义。
注:该效应与温度相关,温度升高时稽纳电压会略微下降,设计电路时需考虑温漂特性。
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