[物] 俄歇电子
The composition of the implanted layer was analysed with Auger electron spectroscopy.
用俄歇能谱仪对注入层的成分进行了分析。
The simulation of the Auger electron emissions in scanning probe electron energy spectrometer (SPEES) is reported.
报道了对扫描探针电子能谱仪（SPEES）中俄歇电子出射的理论模拟研究。
Auger electron spectroscopy (AES) and X ray photoelectron spectroscopy (XPS) are employed to study the synergistic mechanism.
采用俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)研究其协合润滑机理。
Auger electron Spectrscopy (AES) has widespread use in determining the chemical and electronic structure of solid surface (40a).
俄歇电子谱仪广泛地利用来确定固体表面的化学和电子结构(40 A)。
The structure and chemical compositions of the surface oxide film were investigated by XRD and Auger electron spectrometry (AES).
利用X射线衍射(XRD)和俄歇电子衍射(AES)观察了表面膜的化学成分及结构。
俄歇电子（Auger electron） 是一种在原子内部能量弛豫过程中释放的二次电子，属于非辐射跃迁的物理现象。当原子内层电子（如K层）被电离形成空位后，外层电子（如L层）会跃迁至该空位。此时，多余的能量不以X射线形式释放，而是通过俄歇过程传递给另一外层电子（如L层或M层），使其脱离原子束缚而发射，该电子即为俄歇电子。
非辐射跃迁特性
俄歇过程与X射线荧光辐射互为竞争机制。当原子序数较低（通常Z<30）时，俄歇效应占主导，因其发生概率随原子序数减小而增大。
特征能量
俄歇电子的动能由三个能级决定（如KL₁L₂表示初始空位在K层，填补电子来自L₁层，发射电子来自L₂层），其能量具有元素特异性，是表面成分分析的基础。
表面敏感性
俄歇电子平均自由程极短（约0.5–3 nm），仅表层原子发射的电子可逃逸至真空，故被广泛应用于表面科学与材料分析。
该现象由法国物理学家皮埃尔·俄歇（Pierre Auger） 于1925年在云室实验中首次观测到。他通过宇宙射线轨迹发现电子能量与初级电离无关，从而揭示了这一原子弛豫机制。
注：因未搜索到可引用的具体网页链接，本文定义与机制描述基于物理学界公认的原子物理模型及表面分析原理，应用案例参考材料表征领域的通用技术标准。建议通过学术数据库（如Springer、IEEE Xplore）检索“Auger electron spectroscopy”获取权威文献。
Auger electron（俄歇电子）是原子内部电子跃迁过程中释放的一种电子，其形成机制和应用如下：
俄歇电子是原子内层电子被激发电离后，较高能级电子填充空位，多余能量以非辐射方式传递给外层电子，使其脱离原子而形成的电子。这一过程涉及三个以上电子层：内层空位、中间能级电子跃迁，以及外层电子发射。
俄歇电子的动能主要取决于原子能级差。例如，若K层电子被电离，L层电子跃迁填补空位，释放的能量使M层电子脱离原子，其动能可近似表示为：
$$
E_{text{Auger}} = E_K - E_L - E_M
$$
其中，$E_K$、$E_L$、$E_M$分别为对应能级的结合能（）。
原子需具备至少三个电子层才能产生俄歇效应，因此氢、氦等轻元素无法形成俄歇电子（）。
俄歇电子能谱技术（AES）在材料科学和半导体工业中广泛应用，可精确表征材料表面元素分布及化学态（）。如需更深入的理论推导或实验方法，可参考表面分析相关文献。
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