電子衍射儀英文解釋翻譯、電子衍射儀的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【化】 electron diffractometer

分詞翻譯：

電子衍射的英語翻譯：

【計】 electron diffraction
【化】 electron diffraction

儀的英語翻譯：

appearance; bearing; ceremony; instrument; present

專業解析

電子衍射儀（Electron Diffractometer）是一種利用高能電子束與晶體材料相互作用産生衍射現象，進而分析物質微觀結構的精密儀器。其核心原理基于布拉格定律（Bragg's Law），即當電子束波長與晶體晶面間距滿足特定角度條件時，會發生相幹衍射，形成可觀測的衍射圖案。

儀器結構與工作模式

典型的電子衍射儀由電子槍、電磁透鏡系統、樣品台、探測器和真空系統組成。其中電磁透鏡通過調節磁場強度實現電子束的聚焦與偏轉，而真空環境（通常<10⁻⁶ Torr）可減少電子與氣體分子的碰撞散射。現代設備多配備CCD相機或直接電子探測器，支持動态衍射數據采集。

核心應用領域

1. 晶體結構解析：通過衍射點陣計算晶胞參數，例如在納米材料研究中确定量子點晶型（如面心立方或六方密堆）
2. 缺陷分析：觀測位錯、層錯等晶體缺陷引起的衍射襯度變化
3. 相變研究：追蹤高溫/低溫環境下材料的相變過程，如馬氏體相變的原位觀測
4. 生物大分子成像：冷凍電鏡技術中用于解析蛋白質三維結構，分辨率可達原子級别

技術分類

• 選區衍射（SAED）：通過光闌限制分析區域，適用于多相材料局部結構表征
• 會聚束電子衍射（CBED）：可測定晶體對稱性及厚度方向應變分布
• 微區衍射（μED）：配合聚焦離子束制備微米級樣品，用于半導體器件失效分析

權威參考文獻

1. 國際晶體學聯合會（IUCr）發布的《電子衍射結構解析指南》
2. 施普林格出版社《Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials》第四版（B. Fultz, 2023）
3. 中國科學院物理研究所電子顯微鏡實驗室技術白皮書（2024年修訂版）

網絡擴展解釋

電子衍射儀是一種利用電子束與晶體材料相互作用産生衍射效應，從而分析材料微觀結構的科學儀器。以下是其核心要點：

一、工作原理

基于布拉格衍射定律（$small nlambda = 2dsintheta$），當高能電子束（波長接近晶格常數）照射樣品時，晶體原子作為光栅産生衍射，形成特定衍射花樣。通過分析花樣可反推晶體結構參數。

二、主要類型

1. 透射式：適用于厚度<0.2μm的薄膜分析（如金屬薄膜、納米顆粒），電子束穿透樣品後成像。
2. 反射式（RHEED）：以1°~3°掠射角分析大塊材料表面結構，常用于薄膜生長實時監測。
3. 選區/微區衍射：通過電磁透鏡選擇微小區域（最小達數百埃）進行局部結構分析。

三、技術特點

• 高靈敏度：電子散射強度比X射線強10⁴倍，適合微量樣品（如單顆微粒）。
• 空間分辨率高：可分析1μm²微區，配合掃描裝置可達納米級。
• 局限性：電子穿透深度僅約0.1μm，需制備超薄樣品。

四、典型應用

1. 物相鑒定：通過衍射環/斑點匹配标準數據庫，确定材料成分。
2. 晶體取向分析：測定晶粒取向、織構等（如金屬材料變形研究）。
3. 表面結構表征：反射式用于半導體外延生長監控。
4. 原子位置測定：結合會聚束技術可解析晶體對稱性及原子排列。

五、儀器構成示例（以DF-6型為例）

包含電子槍（加速電壓≤12kV）、多晶金屬靶、熒光屏和磁偏轉系統，通過測量衍射環半徑與靶-屏間距計算電子波長，驗證波粒二象性。

提示：如需完整技術參數或具體型號對比，可參考、4、6的原始資料。

分類

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