
【化】 potentiometric stripping analysis
電位溶出分析(Potentiometric Stripping Analysis,PSA)是一種電化學分析方法,主要用于痕量金屬離子的定量檢測。其核心原理基于待測物質在電極表面的預富集和後續電位控制的溶出過程,通過測量溶出階段的電位-時間曲線變化實現定量分析。該方法結合了電位法與溶出伏安法的技術特點,具有靈敏度高(可達ppb級)、選擇性好、抗幹擾能力強的優勢。
從漢英詞典角度解析,“電位”對應英文“potential”,指電化學體系中的電勢差;“溶出”譯為“stripping”,表示通過氧化或還原反應将富集物質從電極表面釋放至溶液的過程。完整的術語可表述為“基于電位變化的溶出檢測技術”(Potential-dependent stripping detection technique)。
該方法在環境監測領域(如水體重金屬檢測)和生物醫學領域(如血鉛分析)有重要應用。根據《分析化學學報》的标準化操作指南,典型分析流程包含三個步驟:①在恒電位下電沉積富集目标離子;②切換電路狀态引發溶出反應;③記錄開路電位隨時間的變化曲線,通過特征電位值識别物質種類,峰面積計算濃度。國際純粹與應用化學聯合會(IUPAC)建議采用汞膜電極或玻碳電極作為工作電極,以提高檢測重現性。
電位溶出分析是一種電化學分析方法,主要用于測定痕量金屬或有機物污染物。其核心原理是通過富集和溶出兩個階段,結合電位變化進行定量分析。以下為詳細解釋:
電位溶出分析通過測量電極電位隨時間的變化(電位-時間曲線)來定量分析待測物質。該方法包含兩個關鍵階段:
數學表達式可簡化為:
$$
Delta t propto C
$$
其中,$Delta t$為電位突躍時間,$C$為待測物濃度。
典型操作流程包括:
與溶出伏安法(通過電流信號定量)不同,電位溶出法依賴電位突躍時間,抗幹擾能力更強,適用于複雜基質樣品的檢測。
電位溶出分析因其高靈敏度和選擇性,在痕量物質檢測中具有重要價值。若需更詳細實驗步驟或儀器參數,可參考道客巴巴和知網的相關文獻。
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