
【化】 secondary ion
【醫】 inferiority
ion
【化】 ion
【醫】 ion
在漢英詞典及專業術語框架下,“次級離子”(secondary ion)指物質表面受到高能初級粒子(如離子束)轟擊後,從表面濺射釋放出的帶電原子或分子碎片。這一概念是表面分析技術(如二次離子質譜法-SIMS)的核心。其核心特征與英文對應關系如下:
物理機制與定義
當高能“初級離子”(primary ion)撞擊固體樣品表面時,其能量轉移導緻表層原子或分子發生電離并被濺射脫離表面,這些新生成的帶電粒子即為“次級離子”。該過程涉及複雜的能量傳遞和化學鍵斷裂機制 。
分析科學中的關鍵作用
次級離子的質量、電荷和強度被用于測定樣品表面元素組成(如半導體雜質檢測)、分子結構(如有機材料分析)及同位素豐度(如地質樣品定年)。其高表面靈敏度可實現納米級深度剖析 。
中英術語對照與詞典釋義
“荷電粒子(離子)轟擊固體表面濺射産生的離子化原子或分子。”
(來源:IUPAC《分析術語綱要》
技術應用場景
在二次離子質譜(SIMS)中,通過測量次級離子的質荷比(m/z)實現材料表征。例如:
(應用案例參考:《表面分析技術導論》,Springer出版社
權威參考文獻來源
次級離子是表面分析技術中産生的帶電粒子,其定義和應用可綜合如下:
定義與産生機制
次級離子指在高能離子束(如氧離子、铯離子等)轟擊固體表面時,通過動能傳遞使表面原子或分子發生濺射,脫離表面并攜帶電荷的粒子。該過程涉及離子與表面原子的碰撞能量轉移,屬于典型的物理濺射現象。
分類與特性
根據帶電狀态可分為正次級離子(如金屬離子)和負次級離子(如氧化物離子)。其帶電特性由被濺射物質的電子親和能及電離電位決定,例如金屬更易形成正離子,非金屬則傾向生成負離子。
核心應用——次級離子質譜(SIMS)
該技術通過質量分析器檢測次級離子的質荷比,實現材料表面成分的定性與定量分析。其優勢包括:
技術特點
與X射線光電子能譜(XPS)等相比,SIMS因離子束穿透深度更淺(約1-2nm),特别適用于超薄膜層或界面分析,但可能因基體效應影響定量精度。
擴展知識
離子本身是原子失去或獲得電子形成的帶電粒子(),而次級離子的特殊性在于其生成依賴于外部離子轟擊的物理過程,而非單純的化學反應電離。
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