超顯微鏡檢查英文解釋翻譯、超顯微鏡檢查的近義詞、反義詞、例句

英語翻譯：

【醫】 ultramicroscopy

分詞翻譯：

超的英語翻譯：

exceed; go beyond; overtake
【計】 hyperactive
【醫】 per-; ultra-

顯微鏡檢查的英語翻譯：

【醫】 micrography; microscopic examination; microscopy

專業解析

超顯微鏡檢查（ultramicroscopy）是一種基于光學散射原理的顯微技術，主要用于觀察尺寸小于傳統光學顯微鏡分辨率極限（約200納米）的亞微觀粒子。該技術通過暗場照明系統，使樣品中的微小顆粒在暗背景中産生散射光斑，從而實現對納米級物質（如膠體粒子、病毒或聚合物分子）的可視化檢測。

在技術原理層面，超顯微鏡不直接解析物體輪廓，而是通過分析粒子産生的廷德爾效應（Tyndall effect）光斑進行間接觀測。這種特性使其在膠體化學和納米材料研究中具有獨特價值，能夠檢測濃度低至$10^{-6}$ g/mL的分散體系。現代改進型儀器結合了數字圖像處理技術，可對粒子進行動态追蹤和尺寸分布統計。

該技術的主要應用領域包括：

生物醫學：病毒顆粒的形态學研究（來源：《英漢生物醫學工程詞典》）
材料科學：納米複合材料分散狀态的評估
環境監測：氣溶膠粒子的實時觀測（來源：美國化學學會技術手冊）

值得注意的是，超顯微鏡的觀測結果需配合電子顯微鏡或原子力顯微鏡進行驗證，因其無法提供樣品的表面形貌信息。這項由物理學家Richard Zsigmondy于1903年發明的技術，至今仍是表征亞微米級粒子的基礎手段之一（來源：諾貝爾獎官網檔案記錄）。

網絡擴展解釋

“超顯微鏡檢查”這一術語可能存在表述混淆，實際可能涉及兩種不同的技術：超顯微鏡（超分辨顯微技術）和超聲顯微鏡檢查。以下分别解釋：

一、超顯微鏡檢查（基于光學超分辨技術）

定義：指利用超分辨顯微技術（如STED、PALM/STORM等）突破傳統光學顯微鏡的衍射極限，實現納米級分辨率（約幾十納米）的顯微觀察方法。
應用領域：

生物學：觀察細胞器、蛋白質分布、病毒顆粒等亞細胞結構。
材料科學：分析納米材料的表面形貌、晶體缺陷等。
優勢：

非侵入性，適合活體樣本動态觀測；
分辨率可達傳統光學顯微鏡的10倍以上。

二、超聲顯微鏡檢查（基于超聲波成像）

定義：利用高頻超聲波（通常＞100MHz）探測物體内部結構的無損檢測技術，通過反射/透射信號生成微米級分辨率的圖像。
原理與流程：

發射超聲波：壓電傳感器産生高頻聲波，通過耦合介質（如水）傳遞至樣本；
信號接收：反射波被傳感器捕獲，經處理轉化為電信號；
成像分析：分層顯示内部缺陷（如裂紋、空洞），分辨率可達微米級。
核心應用：

工業檢測：集成電路分層結構分析、材料晶界觀測（無需破壞樣品）；
生物醫學：活體組織成像、疾病診斷（如乳腺腫塊檢測）。

三、兩者關鍵區别

特征	超顯微鏡（光學超分辨）	超聲顯微鏡
分辨率	納米級（~20nm）	微米級（~1μm）
檢測介質	光波	超聲波
適用樣本	透明/熒光标記樣本	固體、生物組織等
典型技術	STED、SIM、PALM/STORM	高頻聲學透鏡成像

四、總結

若用戶問題實際指向超聲顯微鏡檢查（如工業或醫學場景），其核心是通過高頻超聲波實現無損檢測；而超顯微鏡檢查則屬于光學顯微技術革新，用于納米級觀測。需根據具體場景區分術語使用。