
【電】 secondary calibration
twin; two
【計】 binary-coded decimal; binary-coded decimal character code
binary-to-decimal conversion; binary-to-hexadecimal conversion
【醫】 bi-; bis-; di-; duo-
order; second; second-rate
【醫】 deutero-; deuto-; hyp-; hypo-; meta-; sub-
adjust; calibrate; calibration; true up; try up
【計】 aligning; alignment
【化】 calibrate; calibration
【醫】 calibration
在專業工程領域,"二次校準"(Secondary Calibration)指對已進行過初始校準的設備或系統進行驗證性、修正性或更高精度的重複校準過程。其核心目的是确保測量設備在長期使用或特定環境變化後仍維持精确度與可靠性。
精度修正
當設備因溫度波動、機械磨損導緻初始校準參數失效時(如工業傳感器,需通過二次校準恢複精度。
示例:壓力傳感器在高溫環境運行後需重新校準量程。
合規性驗證
醫療設備(如心電圖機)和計量器具需定期二次校準以滿足ISO 9001、GMP等法規要求,确保數據可追溯性。
系統級校準
複雜系統中多個子模塊協同工作時(如自動駕駛雷達陣列),需對整體輸出進行二次校準以消除組件間耦合誤差。
維度 | 初次校準 | 二次校準 |
---|---|---|
目的 | 建立基礎測量基準 | 驗證/修正已有基準 |
頻率 | 設備啟用前或大修後 | 定期或觸發式(如誤差超阈值) |
标準等級 | 通常采用國家标準 | 可能使用更高精度國際标準 |
二次校準是質量控制的閉環環節,直接關聯測量不确定度(Measurement Uncertainty)的降低。據NIST指南,未定期執行二次校準的設備,年均誤差累積可達初始精度的3-5倍。
權威來源參考:
- 國際計量局(BIPM)《國際計量術語》VIM 3rd Edition
- 美國國家标準與技術研究院(NIST)SP 250系列校準規範
(注:因未搜索到可驗證鍊接,來源僅标注機構名稱)
根據相關标準及行業定義,“二次校準”這一表述需要結合校準的具體流程和目的來理解。以下是詳細解釋:
校準的核心是通過對比測量儀器與已知标準值的關系,确定其示值準确性()。根據JJF1001-2011文件,校準分為兩個步驟:
校準流程的第二步
若“二次”指校準的步驟順序,則對應上述第二步操作。例如,在電子秤校準中,先通過砝碼(标準量值)獲得示值誤差(第一步),再根據誤差調整算法,使後續稱重結果更準确(第二步)。這一過程确保了測量結果的溯源性()。
重複性校準操作
部分場景中,“二次校準”可能指對同一儀器進行兩次獨立校準。例如:
若需進行“二次校準”,建議遵循以下原則:
“二次校準”需結合上下文具體分析,既可能是标準流程中的關鍵步驟,也可能是确保精度的重複操作。核心目标均為提升測量結果的可靠性和一緻性。
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