
【計】 basic failure rate
basic; essence
【計】 failure rate
在可靠性工程領域,"基本失效率"(Basic Failure Rate)是一個核心概念,用于描述産品在特定條件下的固有失效特性。以下是其中英文對照的詳細解釋:
中文解釋
基本失效率指産品在規定的标準試驗條件下(通常為實驗室理想環境)的失效率。它排除了實際使用中環境應力、操作方式等外部因素的影響,反映産品本身的設計與制造質量水平,是可靠性預計的基礎參數。其數學表達為:
$$ lambda_b = frac{n}{T} $$
其中 $lambda_b$ 為基本失效率,$n$ 為失效數,$T$ 為總試驗時間。
英文對照
Basic Failure Rate (BFR) refers to the failure rate of a product under specified standard test conditions (typically ideal laboratory environments). It excludes external factors such as operational stresses or environmental variations in field use, representing the inherent reliability determined by design and manufacturing quality.
在航空航天、核電等高可靠性領域,基本失效率數據支撐故障模式影響分析(FMEA)和可靠性分配。例如衛星元器件需依據GJB/Z 299C标準中的BFR數據選型。
權威參考來源:
基本失效率(Basic Failure Rate, BFR)是衡量電子元件在特定基準環境下失效概率的核心指标,其定義與作用如下:
基本失效率指電子元件在常規環境(如标準溫度、濕度、工作負載等)下,通過長期統計實驗或模型推導得出的單位時間失效概率。它是其他複雜環境下失效率計算的基準值,通常用于可靠性工程中預測元件壽命或系統故障風險。
根據定義,基本失效率的公式為: $$ lambda(t) = lim_{Delta t to 0} frac{P(t < T leq t+Delta t | T > t)}{Delta t} $$ 其中 $T$ 為元件失效時間,$P$ 表示條件概率。
注:實際工程中需注意,BFR不適用于極端環境(如高溫、高輻射),此類場景需通過修正模型(如Arrhenius方程)調整參數。
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